Дослідження термометричного матеріалу Ti1-xscxcosb. Кінетичні, енергетичні та магнітні характеристики

Loading...
Thumbnail Image

Date

2019

Journal Title

Journal ISSN

Volume Title

Publisher

Видавництво Львівської політехніки

Abstract

Висвітлено першу частину комплексного дослідження термометричного матеріалу Ti1-xScxCoSb для виготовлення чутливих елементів термоелектричних та електрорезистивних термоперетворювачів. Досліджено кінетичні, енергетичні та магнітні характеристики напівпровідникового термометричного матеріалу Ti1-xScxCoSb у діапазонах: Т=80–400 К, х=0,005–0,15. Виявлено механізми одночасного генерування у напівпровіднику структурних дефектів акцепторної та донорної природи. Попередні дослідження показали, що результати моделювання енергетичних та кінетичних характеристик термометричних матеріалів на основі TiCoSb не узгоджуються із результатами експериментальних вимірювань, що не дає змоги прогнозувати та отримувати матеріал із наперед заданими харак теристиками. Виникло припущення, що структура базового напівпровідника TiCoSb є дефектною і містить у позиції 4а атомів Ті вакансії, що власне і генерує акцептори. Окрім того, не виключалося зайняття домішковими атомами інших позицій, що також генерує акцептори. Наприклад, якщо до структури сполуки TiCoSb увести атоми V, заміщуючи у позиції 4а атоми Ті, що генерує донори, також може відбуватися одночасне часткове зайняття атомами V кристалографічної позиції 4с атомів Со, що призведе до генерування структурних дефектів акцепторної природи (в атомі V менше 3d-електронів, ніж в атомі Со). Розуміти структурні та енергетичні особливості базового напівпровідника TiCoSb вкрай важливо, бо це дає змогу визначити шляхи оптимізації характеристик термометричних матеріалів легуванням домішок певного типу та концентрації. Результат комплексного дослідження кінетичних, енергетичних та магнітних характеристик термометричного матеріалу Ti1-xScxCoSb – виявлення у напівпровіднику структурних дефектів донорної та акцепторної природи. Виникло припущення, що у термометричному матеріалі Ti1-xScxCoSb спостережувана невідповідність результатів пов’язана саме із неповним розумінням просторового розташування атомів та генерованих ними домішкових енергетичних рівнів у вихідній сполуці TiCoSb. The first part of the complex study of the thermometric material Ti1-xScxCoSb for the production of sensitive elements of thermoelectric and resistive thermotransducers is presented. The kinetic, energetic and magnetic characteristics of the Ti1-xScxCoSb semiconductor thermometric material in the ranges T = 80–400 K, x = 0.005–0.15 have been investigated. The mechanisms of simultaneous generation of structural defects of acceptor and donor natures in the semiconductor are revealed. Previous studies have found that the results of modeling the temperature and kinetic characteristics of thermometric materials based on TiCoSb do not agree with the results of experimental measurements, which does not allow predict and obtain a material with predetermined characteristics. It has been suggested that the structure of the TiCoSb, as the basic semiconductor, is defective and contains vacancies in the position 4a of the atoms, which itself generates acceptors. In addition, the occupation of impurity atoms of other positions, which also generates acceptors, is not excluded. For example, while introducing into the structure of a TiCoSb compound atoms V by substitution at the 4a position of the donor-generating Ti-atoms, simultaneous partial occupation by the V atoms of the crystallographic 4c position of the Co atoms may occur. The latter leads to the generation of acceptor nature structural defects. The importance of understanding the structural and energetic features of the TiCoSb basic semiconductor is crucial since it provides a way of optimizing the performance of thermometric materials by doping with a certain type and concentration of impurities. The result of a comprehensive study of the kinetic, energy and magnetic characteristics of Ti1-xScxCoSb is the detection of donor and acceptor structural defects in a semiconductor. It is suggested that the thermometric material Ti1-xScxCoSb observed discrepancies is caused by the incomplete understanding of the spatial arrangement of impurities and their energy levels generated in the TiCoSb basis. This problem requires additional research, which will be considered sooner. Key words: Electronic structure; Resistivity; Coefficient of TEP. Ключові слова: електронна структура, електроопір, коефіцієнт термо-ЕРС.

Description

Keywords

Citation

Дослідження термометричного матеріалу Ti1-xscxcosb. Кінетичні, енергетичні та магнітні характеристики / В. Я. Крайовський, М. В. Рокоманюк,В. А. Ромака,Ю, В. Стадник,Л. П. Ромака,А. М. Горинь // Вимірювальна техніка та метрологія : міжвідомчий науково-технічний збірник. – Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2019. – Том 80, № 4. – С. 16–22. – Бібліографія: 5 назв.

Endorsement

Review

Supplemented By

Referenced By