Microwave scanning tomography local unit defects

dc.contributor.authorMelnyk, S. I.
dc.contributor.authorSlipchenko, M. I.
dc.date.accessioned2010-10-04T07:42:02Z
dc.date.available2010-10-04T07:42:02Z
dc.date.issued2010
dc.description.abstractThis article analyzes the possibility of creating a microwave scanning tomography on the basis of existing microwave microscopes. An algorithm for the reconstruction of the size, depth and electrical parameters of the local unit heterogeneity on the basis of scanning at two at two different distances between the sensor and object.uk_UA
dc.identifier.citationMelnyk S.I. Microwave scanning tomography local unit defects / S. I. Melnyk, M. I. Slipchenko // Сучасні проблеми радіоелектроніки, телекомунікацій, комп'ютерної інженерії : матеріали ХХ Міжнародної конференції TCSET2010, присвяченої 165-й річниці заснування Національного університету «Львівська політехніка», 23–27 лютого 2010 року, Львів, Славське, Україна / Національний університет «Львівська політехніка». – Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2010. – С. 71. – Bibliography: 2 titles.uk_UA
dc.identifier.urihttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/6212
dc.language.isoenuk_UA
dc.publisherВидавництво Львівської політехнікиuk_UA
dc.subjectmicrowave scanning tomographyuk_UA
dc.subjectresolutionuk_UA
dc.subjectreconstructionuk_UA
dc.subjectlocal unit defectsuk_UA
dc.titleMicrowave scanning tomography local unit defectsuk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Files

Original bundle

Now showing 1 - 1 of 1
Thumbnail Image
Name:
41.pdf
Size:
43.79 KB
Format:
Adobe Portable Document Format

License bundle

Now showing 1 - 1 of 1
No Thumbnail Available
Name:
license.txt
Size:
1.71 KB
Format:
Item-specific license agreed upon to submission
Description: