Spectroscopic Properties of Y4Al2O9:Ce Crystals under High Pressure

Simple item page
dc.citation.conferenceМіжнародна наукова конференція "Оксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування"
dc.citation.epage142
dc.citation.journalTitleОксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування : збірник тез міжнародної наукової конференції
dc.citation.spage142
dc.contributor.affiliationInstitute of Physics, Polish Academy of Sciences, Al. Lotników 32/46, 02-668 Warsaw, Poland
dc.contributor.affiliationInstitute of Physics, Kazimierz Wielki University, Weyssenhoffa 11, 85-072 Bydgoszcz, Poland
dc.contributor.affiliationCardinal Stefan Wyszynski University, College of Science, Department of Mathematics and Natural
dc.contributor.affiliationSciences, Dewajtis 5, 01-815 Warsaw, Poland
dc.contributor.affiliationInstitute of Electronic Materials Technology, Wólczynska 133, 01919 Warsaw, Poland
dc.contributor.affiliationInstitute of Microelectronics and Optoelectronics, Warsaw University of Technology
dc.contributor.affiliationul. Koszykowa 75, 00-662 Warsaw, Poland
dc.contributor.authorWang, Yongjie
dc.contributor.authorSuchocki, A.
dc.contributor.authorCiesielska, M.
dc.contributor.authorKaminska, A.
dc.contributor.authorZhydachevskii, Ya.
dc.contributor.authorTurczyński, S.
dc.contributor.authorPawlak, D. A.
dc.contributor.authorMalinowski, M.
dc.coverage.placenameЛьвів
dc.coverage.placenameLviv
dc.coverage.temporal29 травня–2 червня, 2017 Львів, Україна
dc.coverage.temporalMay 29–June 2, 2017 Lviv, Ukraine
dc.date.accessioned2018-04-02T13:39:55Z
dc.date.available2018-04-02T13:39:55Z
dc.date.created2017-05-29
dc.date.issued2017-05-29
dc.format.extent142
dc.format.pages1
dc.identifier.citationSpectroscopic Properties of Y4Al2O9:Ce Crystals under High Pressure / Yongjie Wang, A. Suchocki, M. Ciesielska, A. Kaminska, Ya. Zhydachevskii, S. Turczyński, D. A. Pawlak, M. Malinowski // Oxide Materials for Electronic Engineering – fabrication, properties and applications : book of abstracts international conference, May 29–June 2, 2017 Lviv, Ukraine. — Lviv, 2017. — P. 142. — (5 materials for quantum and optoelectronics and detectors of radiation).
dc.identifier.citationenSpectroscopic Properties of Y4Al2O9:Ce Crystals under High Pressure / Yongjie Wang, A. Suchocki, M. Ciesielska, A. Kaminska, Ya. Zhydachevskii, S. Turczyński, D. A. Pawlak, M. Malinowski // Oxide Materials for Electronic Engineering – fabrication, properties and applications : book of abstracts international conference, May 29–June 2, 2017 Lviv, Ukraine. — Lviv, 2017. — P. 142. — (5 materials for quantum and optoelectronics and detectors of radiation).
dc.identifier.urihttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/40026
dc.language.isoen
dc.relation.ispartofОксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування : збірник тез міжнародної наукової конференції, 2017
dc.relation.ispartofOxide Materials for Electronic Engineering – fabrication, properties and applications : book of abstracts international conference, 2017
dc.relation.referencesen[1] G. Cunningham, Y. R. Shen, K. L. Bray, Phys. Rev. B 65 (2001) 024112.
dc.rights.holder© Національний університет “Львівська політехніка”, 2017
dc.titleSpectroscopic Properties of Y4Al2O9:Ce Crystals under High Pressure
dc.typeConference Abstract

Files

Original bundle

Now showing 1 - 2 of 2
Thumbnail Image
Name:
OMEE_2017_Wang_Y-Spectroscopic_Properties_of_Y4Al2O9_142.pdf
Size:
78.77 KB
Format:
Adobe Portable Document Format
Download
Thumbnail Image
Name:
OMEE_2017_Wang_Y-Spectroscopic_Properties_of_Y4Al2O9_142__COVER.png
Size:
1.2 MB
Format:
Portable Network Graphics
Download

License bundle

Now showing 1 - 1 of 1
No Thumbnail Available
Name:
license.txt
Size:
2.99 KB
Format:
Plain Text
Description:
Download

Collections

Оксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування (OMEE-2017). – 2017 р.