Спектральний аналіз морфології поверхні тонких плівок

dc.citation.conference15-та Відкрита наукова конференція Інституту прикладної математики та фундаментальних наук (ІМФН)
dc.citation.epage66
dc.citation.journalTitle15-та Відкрита наукова конференція Інституту прикладної математики та фундаментальних наук (ІМФН) : збірник матеріалів і програма конференції
dc.citation.spage66
dc.contributor.affiliationДрогобицький державний педагогічний університет імені І. Франка
dc.contributor.affiliationуніверситет «Львівська політехніка»
dc.contributor.authorВірт, І. С.
dc.contributor.authorЛопатинський, І. Є.
dc.contributor.authorФружинський, М. С.
dc.coverage.placenameЛьвів
dc.coverage.placenameLviv
dc.coverage.temporal13–14 листопада 2018 року, Львів
dc.date.accessioned2020-04-28T07:19:06Z
dc.date.available2020-04-28T07:19:06Z
dc.date.created2018-11-13
dc.date.issued2018-11-13
dc.format.extent66
dc.format.pages1
dc.identifier.citationВірт І. С. Спектральний аналіз морфології поверхні тонких плівок / І. С. Вірт, І. Є. Лопатинський, М. С. Фружинський // 15-та Відкрита наукова конференція Інституту прикладної математики та фундаментальних наук (ІМФН) : збірник матеріалів і програма конференції, 13–14 листопада 2018 року, Львів. — Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2018. — С. 66. — (Теоретична і експериментальна фізика).
dc.identifier.citationenVirt I. S. Spektralnyi analiz morfolohii poverkhni tonkykh plivok / I. S. Virt, I. Ye. Lopatynskyi, M. S. Fruzhynskyi // 15-ta Vidkryta naukova konferentsiia Instytutu prykladnoi matematyky ta fundamentalnykh nauk (IMFN) : zbirnyk materialiv i prohrama konferentsii, 13–14 lystopada 2018 roku, Lviv. — Lviv : Vydavnytstvo Lvivskoi politekhniky, 2018. — P. 66. — (Teoretychna i eksperymentalna fizyka).
dc.identifier.isbn978-966-941-244-7
dc.identifier.urihttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/49102
dc.language.isouk
dc.publisherВидавництво Львівської політехніки
dc.relation.ispartof15-та Відкрита наукова конференція Інституту прикладної математики та фундаментальних наук (ІМФН) : збірник матеріалів і програма конференції, 2018
dc.relation.references1. Long J.M., Wang G.F., Feng X.Q., and Yu S.W. Influence of surface tension on fractal contact model//Journal of Аpplied.– 2014 .– 115.– Р. 123522.
dc.relation.references2. Padilla S., Drbohlav O., Green P.R., Spence A., Chantler M.J. Perceived roughness of 1/fb noise surfaces//Vision Research.– 2008 .– 48.– Р. 1791–1797.
dc.relation.referencesen1. Long J.M., Wang G.F., Feng X.Q., and Yu S.W. Influence of surface tension on fractal contact model//Journal of Applied, 2014 , 115, R. 123522.
dc.relation.referencesen2. Padilla S., Drbohlav O., Green P.R., Spence A., Chantler M.J. Perceived roughness of 1/fb noise surfaces//Vision Research, 2008 , 48, R. 1791–1797.
dc.rights.holder© Національний університет “Львівська політехніка”, 2018
dc.titleСпектральний аналіз морфології поверхні тонких плівок
dc.typeConference Abstract

Files

Original bundle

Now showing 1 - 2 of 2
Thumbnail Image
Name:
2018_Virt_I_S-Spektralnyi_analiz_morfolohii_66.pdf
Size:
128.69 KB
Format:
Adobe Portable Document Format
Thumbnail Image
Name:
2018_Virt_I_S-Spektralnyi_analiz_morfolohii_66__COVER.png
Size:
1.05 MB
Format:
Portable Network Graphics

License bundle

Now showing 1 - 1 of 1
No Thumbnail Available
Name:
license.txt
Size:
3 KB
Format:
Plain Text
Description: