Розробка спеціалізованого програмного забезпеченння для аналізу дефектів і функціональних помилок у стандартних комірках КМОН НВІС

Abstract

Розглянуто розробку спеціалізованого програмного забезпечення для аналізу дефектів та викликаних ними функціональних помилок у комплексних комірках КМОН НВІС. Програмне забезпечення, що розробляється, організовано у вигляді програмної системи FIESTA (акронім з повної назви - “Faults Identification and EStimation of TestAbility”) та призначається для: а) ймовірнісного аналізу дефектів в КМОН НВІС; b) полегшення роботи тестувальників при розробці автоматичної ієрархічної системи генерації тестів; с) оптимізації топології схеми для зменшення впливу фізичних дефектів на технологічну відтворюваність НВІС. Розглянуто основні принципи розробки системи FIESTA та методи і моделі, що покладені в її основу. The development of special software tool named FIESTA (Faults Identification and EStimation of TestAbility) for the defect/fault analysis in the complex gates from industrial cell library is considered. This software tool is destined for the test developers and IC designers and is aimed at: a) probabilistic-based analysis of CMOS physical defects in VLSI circuits; a) facilitation of the work on development of hierarchical probabilistic automatic generation of test patterns; b) improvement of the layout in order to decrease the influence of spot defects on IC manufacturability. We consider the principle concepts of FIESTA development which are based on the developed approach for the identification and estimation of the probability of actual faulty functions resulting from shorts and opens caused by spot defects in the conductive layers of IC layout.