Оцінка інтерференційного шуму при кореляційному аналізі випадкових бінарних фазових масок в оптичній інформаційній системі
dc.citation.epage | 199 | |
dc.citation.issue | 406 : Інформаційні системи та мережі | |
dc.citation.journalTitle | Вісник Національного університету “Львівська політехніка” | |
dc.citation.spage | 192 | |
dc.contributor.affiliation | Фізико-механічпий інститут ім. Г. В. Карпенка НАН України | |
dc.contributor.affiliation | НУ “Львівська політехніка” | |
dc.contributor.author | Муравський, Л. І. | |
dc.contributor.author | Фітьо, В. М. | |
dc.coverage.placename | Львів | |
dc.coverage.placename | Lviv | |
dc.date.accessioned | 2020-03-27T08:42:46Z | |
dc.date.available | 2020-03-27T08:42:46Z | |
dc.description.abstract | It is considered the models of an interference noise producing as a result of a cross-correlation of two random binary phase masks consisted of phase elements with binomial spatial distribution. The process of an interference noise producing on the first diffraction order of the joint transform correlator is analyzed. It is shown, that the signal-to-noise ratio on the correlator’s output is increased, if a quantity of phase elements in two masks is enlarged. | |
dc.format.extent | 192-199 | |
dc.format.pages | 8 | |
dc.identifier.citation | Муравський Л. І. Оцінка інтерференційного шуму при кореляційному аналізі випадкових бінарних фазових масок в оптичній інформаційній системі / Л. І. Муравський, В. М. Фітьо // Вісник Національного університету “Львівська політехніка”. — Львів : Видавництво Національного університету “Львівська політехніка”, 2000. — № 406 : Інформаційні системи та мережі. — С. 192–199. | |
dc.identifier.citationen | Muravskyi L. I. Otsinka interferentsiinoho shumu pry koreliatsiinomu analizi vypadkovykh binarnykh fazovykh masok v optychnii informatsiinii systemi / L. I. Muravskyi, V. M. Fito // Visnyk Natsionalnoho universytetu "Lvivska politekhnika". — Lviv : Vydavnytstvo Natsionalnoho universytetu "Lvivska politekhnika", 2000. — No 406 : Informatsiini systemy ta merezhi. — P. 192–199. | |
dc.identifier.uri | https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/47971 | |
dc.language.iso | uk | |
dc.publisher | Видавництво Національного університету “Львівська політехніка” | |
dc.relation.ispartof | Вісник Національного університету “Львівська політехніка”, 406 : Інформаційні системи та мережі, 2000 | |
dc.relation.references | 1. Применение методов фурье-оптики: под ред. Г.Старка, М, 1988. | |
dc.relation.references | 2. B.Javidi, J.L.Horner Optical pattern recognition for validation and security verification // Opt. Eng., 1994. Vol. S3. N6. P.1752-1756. | |
dc.relation.references | 3. L.I.Muravsky, T.I. Voronyak, V.M.Fitio, M. VShovgenyuk. Transformed phase mask and photoanisotropic material in optical correlators applied for security verification // Opt. Eng, 1999. Vol. 38. N L P.25-32. | |
dc.relation.references | 4. Л. І.Муравський. Обробка бінарних фазових зображень в оптичних і оптико-цифрових кореляційних системах, Тернопіль, 1999. | |
dc.relation.references | 5. V.M.Fitio, L.l.Muravsky, A.Î.Sîefansky. Using of random phase masks for image recognition in optical correlators //Proa SPIE, 1995. Vol 2647. P224-234. 6, Дж. Гудмен. Статистическая оптика, М., 1988. | |
dc.relation.referencesen | 1. Primenenie metodov fure-optiki: ed. H.Starka, M, 1988. | |
dc.relation.referencesen | 2. B.Javidi, J.L.Horner Optical pattern recognition for validation and security verification, Opt. Eng., 1994. Vol. S3. N6. P.1752-1756. | |
dc.relation.referencesen | 3. L.I.Muravsky, T.I. Voronyak, V.M.Fitio, M. VShovgenyuk. Transformed phase mask and photoanisotropic material in optical correlators applied for security verification, Opt. Eng, 1999. Vol. 38. N L P.25-32. | |
dc.relation.referencesen | 4. L. I.Muravskyi. Obrobka binarnykh fazovykh zobrazhen v optychnykh i optyko-tsyfrovykh koreliatsiinykh systemakh, Ternopil, 1999. | |
dc.relation.referencesen | 5. V.M.Fitio, L.l.Muravsky, A.Î.Sîefansky. Using of random phase masks for image recognition in optical correlators //Proa SPIE, 1995. Vol 2647. P224-234. 6, Dzh. Hudmen. Statisticheskaia optika, M., 1988. | |
dc.rights.holder | © Національний університет “Львівська політехніка”, 2005 | |
dc.rights.holder | © Л. І. Муравський, В. М. Фітьо, 2000 | |
dc.subject.udc | 681.7 | |
dc.title | Оцінка інтерференційного шуму при кореляційному аналізі випадкових бінарних фазових масок в оптичній інформаційній системі | |
dc.type | Article |
Files
License bundle
1 - 1 of 1