Оцінка інтерференційного шуму при кореляційному аналізі випадкових бінарних фазових масок в оптичній інформаційній системі

dc.citation.epage199
dc.citation.issue406 : Інформаційні системи та мережі
dc.citation.journalTitleВісник Національного університету “Львівська політехніка”
dc.citation.spage192
dc.contributor.affiliationФізико-механічпий інститут ім. Г. В. Карпенка НАН України
dc.contributor.affiliationНУ “Львівська політехніка”
dc.contributor.authorМуравський, Л. І.
dc.contributor.authorФітьо, В. М.
dc.coverage.placenameЛьвів
dc.coverage.placenameLviv
dc.date.accessioned2020-03-27T08:42:46Z
dc.date.available2020-03-27T08:42:46Z
dc.description.abstractIt is considered the models of an interference noise producing as a result of a cross-correlation of two random binary phase masks consisted of phase elements with binomial spatial distribution. The process of an interference noise producing on the first diffraction order of the joint transform correlator is analyzed. It is shown, that the signal-to-noise ratio on the correlator’s output is increased, if a quantity of phase elements in two masks is enlarged.
dc.format.extent192-199
dc.format.pages8
dc.identifier.citationМуравський Л. І. Оцінка інтерференційного шуму при кореляційному аналізі випадкових бінарних фазових масок в оптичній інформаційній системі / Л. І. Муравський, В. М. Фітьо // Вісник Національного університету “Львівська політехніка”. — Львів : Видавництво Національного університету “Львівська політехніка”, 2000. — № 406 : Інформаційні системи та мережі. — С. 192–199.
dc.identifier.citationenMuravskyi L. I. Otsinka interferentsiinoho shumu pry koreliatsiinomu analizi vypadkovykh binarnykh fazovykh masok v optychnii informatsiinii systemi / L. I. Muravskyi, V. M. Fito // Visnyk Natsionalnoho universytetu "Lvivska politekhnika". — Lviv : Vydavnytstvo Natsionalnoho universytetu "Lvivska politekhnika", 2000. — No 406 : Informatsiini systemy ta merezhi. — P. 192–199.
dc.identifier.urihttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/47971
dc.language.isouk
dc.publisherВидавництво Національного університету “Львівська політехніка”
dc.relation.ispartofВісник Національного університету “Львівська політехніка”, 406 : Інформаційні системи та мережі, 2000
dc.relation.references1. Применение методов фурье-оптики: под ред. Г.Старка, М, 1988.
dc.relation.references2. B.Javidi, J.L.Horner Optical pattern recognition for validation and security verification // Opt. Eng., 1994. Vol. S3. N6. P.1752-1756.
dc.relation.references3. L.I.Muravsky, T.I. Voronyak, V.M.Fitio, M. VShovgenyuk. Transformed phase mask and photoanisotropic material in optical correlators applied for security verification // Opt. Eng, 1999. Vol. 38. N L P.25-32.
dc.relation.references4. Л. І.Муравський. Обробка бінарних фазових зображень в оптичних і оптико-цифрових кореляційних системах, Тернопіль, 1999.
dc.relation.references5. V.M.Fitio, L.l.Muravsky, A.Î.Sîefansky. Using of random phase masks for image recognition in optical correlators //Proa SPIE, 1995. Vol 2647. P224-234. 6, Дж. Гудмен. Статистическая оптика, М., 1988.
dc.relation.referencesen1. Primenenie metodov fure-optiki: ed. H.Starka, M, 1988.
dc.relation.referencesen2. B.Javidi, J.L.Horner Optical pattern recognition for validation and security verification, Opt. Eng., 1994. Vol. S3. N6. P.1752-1756.
dc.relation.referencesen3. L.I.Muravsky, T.I. Voronyak, V.M.Fitio, M. VShovgenyuk. Transformed phase mask and photoanisotropic material in optical correlators applied for security verification, Opt. Eng, 1999. Vol. 38. N L P.25-32.
dc.relation.referencesen4. L. I.Muravskyi. Obrobka binarnykh fazovykh zobrazhen v optychnykh i optyko-tsyfrovykh koreliatsiinykh systemakh, Ternopil, 1999.
dc.relation.referencesen5. V.M.Fitio, L.l.Muravsky, A.Î.Sîefansky. Using of random phase masks for image recognition in optical correlators //Proa SPIE, 1995. Vol 2647. P224-234. 6, Dzh. Hudmen. Statisticheskaia optika, M., 1988.
dc.rights.holder© Національний університет “Львівська політехніка”, 2005
dc.rights.holder© Л. І. Муравський, В. М. Фітьо, 2000
dc.subject.udc681.7
dc.titleОцінка інтерференційного шуму при кореляційному аналізі випадкових бінарних фазових масок в оптичній інформаційній системі
dc.typeArticle

Files

Original bundle

Now showing 1 - 2 of 2
Thumbnail Image
Name:
2000n406_Muravskyi_L_I-Otsinka_interferentsiinoho_192-199.pdf
Size:
866.84 KB
Format:
Adobe Portable Document Format
Thumbnail Image
Name:
2000n406_Muravskyi_L_I-Otsinka_interferentsiinoho_192-199__COVER.png
Size:
3.06 MB
Format:
Portable Network Graphics

License bundle

Now showing 1 - 1 of 1
No Thumbnail Available
Name:
license.txt
Size:
2.97 KB
Format:
Plain Text
Description: