Trap Settings for the Free Charge Carriers

Simple item page
dc.citation.conferenceМіжнародна наукова конференція "Оксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування"
dc.citation.epage66
dc.citation.journalTitleОксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування : збірник тез міжнародної наукової конференції
dc.citation.spage66
dc.contributor.affiliationTaras Shevchenko National University of Kyiv, 64 Volodymyrs'ka Str., 01601 Kyiv, Ukraine
dc.contributor.affiliationNational Pedagogical Dragomanov University, 9 Pyrogova Str., 01601 Kyiv, Ukraine
dc.contributor.authorDegoda, V. Ya.
dc.contributor.authorAlizadeh, M.
dc.contributor.authorPavlova, N. Yu.
dc.coverage.placenameЛьвів
dc.coverage.placenameLviv
dc.coverage.temporal29 травня–2 червня, 2017 Львів, Україна
dc.coverage.temporalMay 29–June 2, 2017 Lviv, Ukraine
dc.date.accessioned2018-04-02T13:42:02Z
dc.date.available2018-04-02T13:42:02Z
dc.date.created2017-05-29
dc.date.issued2017-05-29
dc.format.extent66
dc.format.pages1
dc.identifier.citationDegoda V. Ya. Trap Settings for the Free Charge Carriers / V. Ya. Degoda, M. Alizadeh, N. Yu. Pavlova // Oxide Materials for Electronic Engineering – fabrication, properties and applications : book of abstracts international conference, May 29–June 2, 2017 Lviv, Ukraine. — Lviv, 2017. — P. 66. — (2 active media fundamentals: crystal structure and defects).
dc.identifier.citationenDegoda V. Ya. Trap Settings for the Free Charge Carriers / V. Ya. Degoda, M. Alizadeh, N. Yu. Pavlova // Oxide Materials for Electronic Engineering – fabrication, properties and applications : book of abstracts international conference, May 29–June 2, 2017 Lviv, Ukraine. — Lviv, 2017. — P. 66. — (2 active media fundamentals: crystal structure and defects).
dc.identifier.urihttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/40178
dc.language.isoen
dc.relation.ispartofОксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування : збірник тез міжнародної наукової конференції, 2017
dc.relation.ispartofOxide Materials for Electronic Engineering – fabrication, properties and applications : book of abstracts international conference, 2017
dc.rights.holder© Національний університет “Львівська політехніка”, 2017
dc.titleTrap Settings for the Free Charge Carriers
dc.typeConference Abstract

Files

Original bundle

Now showing 1 - 2 of 2
Thumbnail Image
Name:
OMEE_2017_Degoda_V_Ya-Trap_Settings_for_the_Free_66.pdf
Size:
52.93 KB
Format:
Adobe Portable Document Format
Download
Thumbnail Image
Name:
OMEE_2017_Degoda_V_Ya-Trap_Settings_for_the_Free_66__COVER.png
Size:
965 KB
Format:
Portable Network Graphics
Download

License bundle

Now showing 1 - 1 of 1
Thumbnail Image
Name:
license.txt
Size:
2.92 KB
Format:
Plain Text
Description:
Download

Collections

Оксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування (OMEE-2017). – 2017 р.