Визначення товщини напівпровідникових тонких плівок CdS методом інверсійної вольтамперометрії
| dc.contributor.author | Гумінілович, Руслана | |
| dc.contributor.author | Шаповал, Павло | |
| dc.contributor.author | Ятчишин, Йосип | |
| dc.contributor.author | Кусьнеж, Віктор | |
| dc.date.accessioned | 2013-06-26T14:34:17Z | |
| dc.date.available | 2013-06-26T14:34:17Z | |
| dc.date.issued | 2011 | |
| dc.description.abstract | Розроблена проста й швидка методика визначення товщини напівпровідникових тонких плівок кадмій сульфіду з використанням методу інверсійної вольтамперометрії. Отримані результати мають добру сходимість з результатами еліпсометричних вимірювань, які є загальноприйнятими длятакого виду досліджень. | uk_UA |
| dc.identifier.citation | Визначення товщини напівпровідникових тонких плівок CdS методом інверсійної вольтамперометрії / Руслана Гумінілович, Павло Шаповал, Йосип Ятчишин, Віктор Кусьнеж // Хімія та хімічні технології : матеріали ІI Міжнародної конференції молодих вчених CCT-2011, 24–26 листопада 2011 року, Україна, Львів / Національний університет "Львівська політехніка". – Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2011. – С. 188–189. – (3-й Міжнародний молодіжний фестиваль науки "Litteris et Artibus"). – Бібліографія: 3 назви. | uk_UA |
| dc.identifier.uri | https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/20118 | |
| dc.language.iso | ua | uk_UA |
| dc.publisher | Видавництво Львівської політехніки | uk_UA |
| dc.subject | тонкі плівки | uk_UA |
| dc.subject | хімічне осадження | uk_UA |
| dc.subject | інверсійна вольтамперометрія | uk_UA |
| dc.title | Визначення товщини напівпровідникових тонких плівок CdS методом інверсійної вольтамперометрії | uk_UA |
| dc.type | Article | uk_UA |