Термічне розширення кристала La0.92 Sr0.08 Ga0.92Ti0.08О3

No Thumbnail Available

Date

2004

Journal Title

Journal ISSN

Volume Title

Publisher

Видавництво Національного університету «Львівська політехніка»

Abstract

Методом порошкової дифракції високого розділення з використанням синхротронного та рентгенівського випромінювання досліджено термічне розширення кристала La0.92Si0.08Ga0.92Ti0.08O3 (LSGT-8) в великому температурному діапазоні від 12 К до 1203 К. Встановлено, що при температурі Тс~ 303 К відбувається фазовий перехід першого роду з орторомбічної (Ор) структури (просторова група Pbnm, Z= 4) в ромбоедричу (Рд) (просторова група R-3c, Z= 6), який супроводжується зменшенням наведеного об’єму елементарної комірки (AV = -0.09 %). Уточнено параметри елементарних комірок та координати атомів низькотемпературної та високотемпературної фаз у цілому досліджуваному температурному інтервалі. Показано, що термічне розширення структури LSGT-8 має нелінійний та анізотропний характер. Проаналізовано температурні залежності міжатомних віддалей та параметрів деформації перовськітної структури. Thermal expansion of La0.92Sr0.08Ga0.92Ti0.0sO3 (LSGT-8) crystal has been investigated by means of in situ high resolution powder diffraction technique using synchrotron and X-ray radiation in a wide temperature range 12 K-1203 K. The first order phase transition from orthorhombic (space group Pbnm, Z= 4) to rhombohedral structure (space group R-3c, Z= 6) occur around the room temperature (7c = 303 K), which is accompanied with a decreasing of the cell volume (AV= -0.09 %). Lattice parameters and atomic coordinates of low- and high- temperature phases have been refined in the whole temperature range investigated. It was shown, that thermal expansion of LSGT-8 structure displays nonlinear and anysotropic behavior. Analysis of the temperature dependencies of the interatomic distances and perovskite structure deformation parameters has been performed.

Description

Keywords

Citation

Термічне розширення кристала La0.92 Sr0.08 Ga0.92Ti0.08О3 / Є. В. Півак, Л. О. Василечко, А. О. Матковський, М. Берковскі // Вісник Національного університету «Львівська політехніка». – 2004. – № 514 : Електороніка. – С. 142–146. – Бібліографія: 9 назв.