Кутова стабільність максимумів вказівних поверхонь фізичних ефектів, індукованих зовнішніми полями

Loading...
Thumbnail Image

Date

2010

Journal Title

Journal ISSN

Volume Title

Publisher

Видавництво Львівської політехніки

Abstract

Досліджено кутову ширину максимумів п’єзоелектричного (ПЕЕ) і електрооптичного (ЕОЕ) ефектів у разі зміни зовнішніх умов (орієнтації лазерного пучка, довжини хвилі світла та температури кристала). Зокрема, проаналізовано кутову стабільність ПЕЕ та індукованої оптичної різниці ходу внаслідок ЕОЕ у кристалах ніобату літію з оксидом магнію і лангаситу. Виявлено, що перевагою геометрій експерименту, пов’язаних із екстремальними значеннями для косих зрізів кристалів, є некритичність стосовно змін відносної кутової орієнтації зразка та напрямків зовнішнього поля, поширення та поляризації світла. In this work we have studied angular width of the maxima of piezoelectric and electrooptic effects when the external conditions (laser beam orientation, light wavelength and the crystal temperature) are changed. In particular, we have analyzed the angular stability of piezoelectric coefficients and the induced optical path difference due to electrooptic effect in langasite and lithium niobate crystals doped with magnesium oxide. The advantage of experimental geometries related to extremal values for the non-direct crystal cuts is noncriticality concerned with changing relative angular orientation of the sample and the directions of external field, light propagation and its polarization.

Description

Keywords

п’єзоелектричний і електрооптичний ефекти, просторова анізотропія, вказівні поверхні, La3Ga5SiO14, LiNbO3:MgO, piezoelectric and electrooptic effects, indicative surfaces, spatial anisotropy, La3Ga5SiO14, LiNbO3:MgO

Citation

Кушнір О. С. Кутова стабільність максимумів вказівних поверхонь фізичних ефектів, індукованих зовнішніми полями / О. С. Кушнір, О. В. Юркевич, А. С. Андрущак // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". – 2010. – № 681 : Електроніка. – С. 197–204. – Бібліографія: 18 назв.

Endorsement

Review

Supplemented By

Referenced By