Estimation of reliability indices for symmetric ramified systems

dc.contributor.authorSydor, Andriy
dc.date.accessioned2010-10-05T09:04:03Z
dc.date.available2010-10-05T09:04:03Z
dc.date.issued2010
dc.description.abstractMain reliability indices for unrestorable symmetric systems ramified to level 3 and with ageing output elements are examined in this paper. Models for the failure probability, the failure frequency and the failure rate are worked out in the case when the lifetime of ageing output elements is circumscribed by the Weibull distribution.uk_UA
dc.identifier.citationSydor A. Estimation of reliability indices for symmetric ramified systems / Andriy Sydor // Сучасні проблеми радіоелектроніки, телекомунікацій, комп'ютерної інженерії : матеріали ХХ Міжнародної конференції TCSET2010, присвяченої 165-й річниці заснування Національного університету «Львівська політехніка», 23–27 лютого 2010 року, Львів, Славське, Україна / Національний університет «Львівська політехніка». – Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2010. – С. 107. – Bibliography: 7 titles.uk_UA
dc.identifier.urihttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/6244
dc.language.isoenuk_UA
dc.publisherВидавництво Львівської політехнікиuk_UA
dc.subjectramified systemsuk_UA
dc.subjectsymmetric systemsuk_UA
dc.subjectreliability indicesuk_UA
dc.subjectageing elementsuk_UA
dc.titleEstimation of reliability indices for symmetric ramified systemsuk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Files

Original bundle

Now showing 1 - 1 of 1
Loading...
Thumbnail Image
Name:
74.pdf
Size:
40.23 KB
Format:
Adobe Portable Document Format

License bundle

Now showing 1 - 1 of 1
Loading...
Thumbnail Image
Name:
license.txt
Size:
1.71 KB
Format:
Item-specific license agreed upon to submission
Description: