Моделювання тетраедричних дефектних станів в стеклах As-S
dc.contributor.author | Бойко, В. Т. | |
dc.date.accessioned | 2010-06-10T11:59:22Z | |
dc.date.available | 2010-06-10T11:59:22Z | |
dc.date.issued | 2010 | |
dc.identifier.citation | Бойко В. Т. Моделювання тетраедричних дефектних станів в стеклах As-S / В. Т. Бойко // Тринадцята відкрита науково-технічна конференція Інституту телекомунікацій, радіоелектроніки та електронної техніки Національного університету «Львівська політехніка» з проблем електроніки : тези доповідей, 13–15 квітня 2010 року / Національний університет «Львівська політехніка». – Львів : Видавництво Національного університету «Львівська політехніка», 2010. – С. 9. – Бібліографія: 2 назви. | uk_UA |
dc.identifier.uri | https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/4561 | |
dc.language.iso | ua | uk_UA |
dc.publisher | Видавництво Національного університету "Львівська політехніка" | uk_UA |
dc.subject | катіон | uk_UA |
dc.subject | аніон | uk_UA |
dc.subject | кластер | uk_UA |
dc.subject | базис | uk_UA |
dc.title | Моделювання тетраедричних дефектних станів в стеклах As-S | uk_UA |
dc.type | Technical Report | uk_UA |