Browsing by Author "Остап, Олег"

Now showing 1 - 2 of 2

Аналіз шумових параметрів та еквівалентних шумових схем підсилювальних пристроїв /Огляд/
(Видавництво Державного університету “Львівська політехніка”, 2000) Нічога, Віталій; Остап, Олег; Дуб, Петро
Для вимірювань сигналів низького рівня використовуються підсилювачі з малими власними шумами, внесок яких у загальний шум описується шумовими параметрами та еквівалентними шумовими схемами, які в науковій літературі наведені досить широко, але без належного зіставлення і визначення сфер їх доцільного використання. В роботі проведено їх оглядовий аналіз, показані переваги і недоліки, а також визначено найперспективніші області їх застосування. Amplifiers with low noise, which contribution into total noise are described by noise parameters and equivalent noise schemes, are used for measuring of low-level signals. These parameters and schemes are widely considered in literature but without sufficient comparison and determining of their expedient application spheres. In this article their review analysis is carried out, advantages and disadvantages are shown and the most efficient domains of their using are pointed out.
Вплив типу та локалізації дефекту в транзисторах на шумові параметри підсилювачів
(Видавництво Національного університету «Львівська політехніка», 2001) Нічога, Віталій; Остап, Олег; Дуб, Петро
Представлено аналітичні дослідження впливу типу і розташування дефектів транзистора на шумові параметри підсилювача за умови моделювання канонічною еквівалентною шумовою схемою. Запропоновано два узагальнюючі діагностуючі параметри, які мають найбільшу чутливість до дефектів. Analytical investigation of influence of transistor defects type and localization on noise parameters of amplifiers are presented using modeling by the canonical equivalent noise scheme. Two generalized diagnostics parameters giving the highest sensitivity to defects are proposed.