Автоматика, вимірювання та керування. – 2013. – №753

Permanent URI for this collectionhttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/23169

Збірник наукових праць

У віснику опубліковано статті, які відображають результати робіт у галузі вимірювань і засобів керування із застосуванням сучасної аналогової і цифрової техніки, зокрема мікропроцесорних систем. Для наукових працівників, викладачів, інженерів, які спеціалізуються в царині автоматики, систем керування, інформаційно-вимірювальної техніки, а також аспірантів, студентів старших курсів відповідних спеціальностей.

Вісник Національного університету "Львівська політехніка" / Міністерство освіти і науки України, Національний університет "Львівська політехніка" ; відповідальний редактор В. Б. Дудикевич. – Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2013. – № 753 : Автоматика, вимірювання та керування. – 168 с. : іл.

Browse

Author: search.filters.author.Совин, Я. Р.Subject: search.filters.subject.NIST STS tests

Search Results

Now showing 1 - 1 of 1
  • Thumbnail Image
    Item
    Дослідження характеристик вбудованого генератора випадкових чисел мікроконтролерів родини STM32F4XX згідно з методикою NIST STS
    (Видавництво Львівської політехніки, 2013) Совин, Я. Р.; Наконечний, Ю. М.; Стахів, М. Ю.
    Проведено тестування вбудованого генератора випадкових чисел мікроконтро- лерів родини STM32F4XX з ядром ARM Cortex-M4F згідно з методикою NIST STS за різних значень тактової частоти. Показано, що за результатами тестів NIST STS ці генератори задовольняють вимоги, які ставляться до генераторів випадкових чисел у криптографічних додатках. Testing of microcontroller’s hardware random number generator of family STM32F4XX with the kernel ARM Cortex-M4F is conducted in obedience to the method of NIST STS at the different values of clock rate. It is shown that as a result of NIST STS tests these generators satisfy requirements which behave to the random number generators in cryptographic applications.