Електроніка. – 2000. – №401

Permanent URI for this collectionhttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/37269

Вісник Національного університету "Львівська політехніка"

У Віснику опубліковані результати наукові-технічних досліджень у галузі технологічних, експериментальних, теоретичних та методологічних проблем електроніки та оптоелектроніки, фізики і техніки напівпровідників та напівпровідникового матеріалознавства, фізики твердого тіла, фізики, техніки та використання елементів, приладів та систем сучасної електронної техніки. Тематика Вісника Національного університету “Львівська політехніка” “Електроніка” охоплює такі розділи електроніки: матеріали електронної техніки; фізика, технологія та виробництво елементів, приладів та систем електронної техніки; фізика і техніка напівпровідників, металів, діелектриків та рідких кристалів; експериментальні та теоретичні дослідження електронних процесів; методика досліджень. У Віснику “Електроніка” публікуються оглядові та дослідницькі роботи, присвячені його тематиці (але не обмежені лише нею). Роботи можуть подавати як співробітники Львівської політехніки, так і будь-яких інших навчальних чи наукових закладів. Роботи авторів з України друкуються українською мовою. Для наукових працівників, інженерів і студентів старших курсів електрофізичних та технологічних спеціальностей.

Вісник Національного університету «Львівська політехніка» : [збірник наукових праць] / Міністерство освіти і науки України, Національний університет «Львівська політехніка» – Львів : Видавництво Національного університету «Львівська політехніка», 2000. – № 401 : Електроніка / відповідальний редактор Д. Заярчук. – 127 с. : іл.

Browse

Search Results

Now showing 1 - 1 of 1
  • Thumbnail Image
    Item
    Можливості однопроменевої та відеополяриметрії кристалів
    (Видавництво Національного університету «Львівська політехніка», 2000) Шопа, Я. І.; Серкіз, Р. Я.; Боднар, М. І.
    Розглядаються принципи реалізації високоточних поляриметричних методик вимірювання основних параметрів природної та індукованої оптичної анізотропії кристалів. Враховано систематичні похибки. Для визначення просторового розподілу параметрів оптичної анізотропії використано ідеополяриметр. The principles for high-accuracy polarimetric methods of measuring the main parameters of natural and induced optical anisotropy of crystals are considered. Systematic errors are taken into account. The image-polarimetry have been used for the measurements of spatial distribution of the optical anisotropy parameters characterizing several single crystals.