Вимірювальна техніка та метрологія. – 2002. – Випуск 59
Permanent URI for this collectionhttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/42400
Browse
1 results
Search Results
Item Аналіз сумісного впливу методичної та інструментальної похибок томографії провідності(Видавництво Національного університету "Львівська політехніка", 2002) Дорожовець, Михайло; Ковальчик, Адам; Національний університет “Львівська політехніка”; Жешувська політехніка, ПольщаДосліджена залежність сумарної похибки відтворення провідності від кількості апроксимаційних елементів та рівня інструментальних похибок вимірювання електродних величин Показано, що для заданого рівня інструментальної похибки існує оптимальна кількість апроксимаційних елементів, для якої досягається мінімум сумарної похибки. Исследована зависимость суммарной погрешности восстановления проводимости от количества аппроксимирующих элементов и уровня инструментальных погрешностей измерения электродных величин Показано, что для заданного уровня инструментальных погрешностей существует оптимальное количество аппроксимирующих элементов, при котором получается минимум суммарной погрешности. In the article the dependence of the resultant error conductivity reconstruction from the quantity of approximating elements and the level of the instrument errors in the measurement of electrode values is investigated. It is shown that for the assigned level of the instrument errors there is an optimum of approximating elements quantity, for which the value of resultant error becomes minimum.