Радіоелектроніка та телекомунікації. – 2011. – №705

Permanent URI for this collectionhttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/11550

Вісник Національного університету "Львівська політехніка"

У віснику відображено результати досліджень з теорії та проектування радіо-електронних кіл і пристроїв, антен і пристроїв НВЧ-діапазону, систем телекомунікації та інформаційних мереж, а також математичного моделювання та конструювання радіо-електронних схем і радіоапаратури. Для наукових працівників, інженерів та студентів старших курсів, фахівців з радіотехніки, інформаційних технологій та телекомунікаційних систем, матеріалознавства, інформатики, вимірювання і контролю якості.

Вісник Національного університету «Львівська політехніка» : [збірник наукових праць] / Міністерство освіти і науки України, Національний університет «Львівська політехніка» – Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2011. – № 705 : Радіоелектроніка та телекомунікації / відповідальний редактор Б. А. Мандзій. – 264 с. : іл.

Browse

Author: search.filters.author.Заярнюк, П. М.

Search Results

Now showing 1 - 2 of 2
  • Thumbnail Image
    Item
    Номографічний опис (λ, Р)-моделі надійності радіоапаратури
    (Видавництво Львівської політехніки, 2011) Заярнюк, П. М.
    Досліджено (λ, Р)-модель на придатність до побудови номограми. Проаналізовано можливі варіантиь побудови номограми, та побудовано номограму зв’язку для (λ, Р)- моделі. Fitness of (λ, P)-model to build nomographs have been investigated. Possible variants of nomographs have been analyzed and nomograma due to (λ, P)-model have been built.
  • Thumbnail Image
    Item
    Оцінювання безвідмовності РЕА за рівнем парціальної виробничої дефектності
    (Видавництво Львівської політехніки, 2011) Недоступ, Л. А.; Кіселичник, М. Д.; Заярнюк, П. М.
    Розглянуто процес формування парціальної виробничої дефектності. Наведені результати експериментально-статистичних досліджень відмов радіоелектронної апаратури з причин виробничої дефектності і отримані аналітичні залежності показників надійності виробів від допущеної дефектності. Результати можуть бути використані для розроблення математичних моделей процесів формування надійності. In this paper the process of partial anufacturing defect are given. Results of experimental and statistical studies of failures of electronic equipment production by these defections. Analytical products depending on the reliability of assumed defect received. Results can be used to develop a mathematical models of processes forming of reliability.