(Видавництво Національного університету “Львівська політехніка”, 2005-03-01) Грицьків, З. Д.; Педан, А. Д.; Шклярський, В. І.; Національний університет “Львівська політехніка”
Розглянуто питання підвищення ефективності сканувальної оптичної мікроскопії за рахунок різнобічного використання комп’ютерної підтримки. Основна увага зосереджена на алгоритмах відтворення зображень, які формуються під час роботи мікроскопа на відбиття та використання мультисенсорного фотоелектричного приймача. Запропоновані алгоритми режиму колової панорами та хитного секторного режиму дають змогу забезпечувати сприйняття просторовості (об’ємності) мікрооб’єкта у разі двовимірності сформованих на екрані монітора зображень.
