(Видавництво Національного університету «Львівська політехніка», 2009) Колодій, З. О.; Недоступ, Л. А.; Колодій, А. З.
Запропоновано методику оцінки дефектності структури елементів електроніки за мінімальним значенням спектральної густини потужності їх флікер-шуму і мінімальним значенням середнього квадрата напруги шумів в діапазоні низьких частот. The method of estimation of electronic elements reliability using their minimal value of flicker-noise power spectral density and minimal value of noises voltage average square in the range of low frequencies is proposed.
