Методика оцінки дефектності структури елементів електроніки за рівнем їх флікер-шуму
Loading...
Files
Date
2009
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Видавництво Національного університету «Львівська політехніка»
Abstract
Запропоновано методику оцінки дефектності структури елементів електроніки за мінімальним значенням спектральної густини потужності їх флікер-шуму і мінімальним значенням середнього квадрата напруги шумів в діапазоні низьких частот. The method of estimation of electronic elements reliability using their minimal value of flicker-noise power spectral density and minimal value of noises voltage average square in the range of low frequencies is proposed.
Description
Keywords
спектральна густина, флікер-шум, spectral density, flicker-noise
Citation
Колодій З. О. Методика оцінки дефектності структури елементів електроніки за рівнем їх флікер-шуму / З. О. Колодій, Л. А. Недоступ, А. З. Колодій // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". – 2009. – № 645 : Радіоелектроніка та телекомунікації. – С. 236-238. – Бібліографія: 6 назв.