Вісники та науково-технічні збірники, журнали

Permanent URI for this communityhttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/12

Browse

Has files: YesSubject: search.filters.subject.interferometry

Search Results

Now showing 1 - 2 of 2
  • Thumbnail Image
    Item
    Learning Interferometric Equipment through Integration of Game Methods into Mobile Application
    (Видавництво Львівської політехніки, 2023-02-28) Яцишин, Святослав; Назаркевич, Ігор; Yatsyshyn, Svyatoslav; Nazarkevych, Ihor; Національний університет “Львівська політехніка”; Lviv Polytechnic National University
    Стаття присвячена вивченню та розробці мобільного застосунку для базового та поглибленого вивчення інтерферометричного обладнання. Основуючись на сучасних підходах до освіти та актуальних потребах студентів, досліджено особливості роботи з високоточним інтерферометричним обладнанням. В статті розглядаються проблеми, пов'язані з вивченням інтерферометрії як дисципліни: складність розуміння термінології, унікальність прикладної бази та обмежена кількість студентів. Для вирішення цих проблем пропонується залучення ігрових методів навчання, що дозволяє зробити процес більш занурюючим та ефективним. Застосунок, розроблений на базі платформи Unity, має на меті зробити вивчення доступним, цікавим та ефективним, комбінуючи теоретичні знання з практичними завданнями та ігровими елементами.
  • Thumbnail Image
    Item
    Статична фотопружність тетрагональних кристалів за різницею ходу
    (Видавництво Львівської політехніки, 2010) Кость, Я. П.; Андрущак, А. С.; Мицик, Б. Г.
    Для кристалів, що належать до класів симетрії 4, 4 , 4/m, встановлено співвідношення, які описують п’єзооптичний ефект за різницею ходу. Проведено аналіз цих співвідношень і доведено, що на основі п’єзооптичних коефіцієнтів різниці ходу і кількох інтерферометричних вимірювань можна знайти усі абсолютні п’єзооптичні коефіцієнти з меншими похибками, ніж тільки інтерферометричними методами. Relations that describe piezo-optic effect of retardation for crystals with symmetry classes 4, 4 , 4/m were determined. Analysis of these relations was done and we proved that using piezo-optic coefficients of retardation and few interferometric measurements it is possible to acquire all absolute piezo-optic coefficients with smaller errors than with interferometric methods only.