(Видавництво Національного університету “Львівська політехніка”, 2005-03-01) Недоступ, Л. А.; Кіселичник, М. Д.; Бобало, Ю. Я.; Лазько, О. В.; Національний університет “Львівська політехніка”
Розглянуто варіанти математичного моделювання процесів забезпечення якості та надійності радіоелектронної апаратури і сумарних виробничих витрат, які ґрунтуються на статистично-імовірнісних підходах до локального і сумарного оцінювання ефективності всіх стадій виробництва.