Фізико-механічні дослідження матеріалів електроніки

Abstract

Подано результати багаторічних досліджень фізико-механічних властивостей кристалів A B та A B. Методом одновісного стискування та мікроіндентування одержано низку параметрів пружності, пластичності, міцності та крихкості. Установлено механізми пластичної деформації. Досліджено вплив зовнішніх факторів на структуру та фізико-механічні властивості матеріалів. The results of long-term investigations of mechanical properties of crystals II-VI and III-V are given in this work. The method axial of compression and microidenta- tion receives a number of parameters of elasticity, plasticity, strength, and fragility. The mechanisms of plastic deformation are established. The influence of external influences on structure and mechanical properties of materials is investigated.