Modeling of Internal mechanical tension’s influence on electric strength of M-D-M-structures under electric breakdown
Loading...
Files
Date
2010
Authors
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Видавництво Львівської політехніки
Abstract
Deformation changes of electric strength of M-D-Mstructures under electric, ionization and electrochemical breakdown, caused by internal mechanical tensions, are modeling in the article. Determined mathematical models which take into account main mechanisms of internal mechanical tension’s influence on M-D-M-structure’s electric strength are represented
Description
Keywords
internal mechanical tensions, deformation, film, electric strength, electric breakdown
Citation
Matviykiv M. Modeling of internal mechanical tension’s influence on electric strength of M-D-M-structures under electric breakdown / Myhaylo Matviykiv, Alina Petrushka // Сучасні проблеми радіоелектроніки, телекомунікацій, комп’ютерної інженерії : матеріали ХХ Міжнародної конференції TCSET2010, присвяченої 165-й річниці заснування Національного університету «Львівська політехніка», 23–27 лютого 2010 року, Львів, Славське, Україна / Національний університет «Львівська політехніка». – Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2010. – С. 348. – Bibliography: 3 titles.