Дефектність структур електронних засобів та проблема адекватності її розрахунку
Date
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Видавництво Національного університету “Львівська політехніка”
Abstract
Запропоновано модель розрахунку виходу придатних кристалів
інтегральних схем із врахуванням дво- та тривимірної дефектності
мікроструктур електронних засобів.
Integrated circuit dies yield model which takes into account the two- and threedimensional defectivity of electronic device microstructures has been proposed.
Integrated circuit dies yield model which takes into account the two- and threedimensional defectivity of electronic device microstructures has been proposed.
Description
Keywords
Citation
Дефектність структур електронних засобів та проблема адекватності її розрахунку / В. А. Павлиш, І. В. Данчишин, Р. О. Корж, Д. В. Вишняков // Вісник Національного університету “Львівська політехніка”. — Львів : Видавництво Національного університету “Львівська політехніка”, 2002. — № 440 : Радіоелектроніка та телекомунікації. — С. 33–39.