Дефектність структур електронних засобів та проблема адекватності її розрахунку

Date

2001-03-27

Journal Title

Journal ISSN

Volume Title

Publisher

Видавництво Національного університету “Львівська політехніка”

Abstract

Запропоновано модель розрахунку виходу придатних кристалів інтегральних схем із врахуванням дво- та тривимірної дефектності мікроструктур електронних засобів.
Integrated circuit dies yield model which takes into account the two- and threedimensional defectivity of electronic device microstructures has been proposed.

Description

Keywords

Citation

Дефектність структур електронних засобів та проблема адекватності її розрахунку / В. А. Павлиш, І. В. Данчишин, Р. О. Корж, Д. В. Вишняков // Вісник Національного університету “Львівська політехніка”. — Львів : Видавництво Національного університету “Львівська політехніка”, 2002. — № 440 : Радіоелектроніка та телекомунікації. — С. 33–39.

Endorsement

Review

Supplemented By

Referenced By