Дефектність структур електронних засобів та проблема адекватності її розрахунку
Date
2001-03-27
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Видавництво Національного університету “Львівська політехніка”
Abstract
Запропоновано модель розрахунку виходу придатних кристалів
інтегральних схем із врахуванням дво- та тривимірної дефектності
мікроструктур електронних засобів.
Integrated circuit dies yield model which takes into account the two- and threedimensional defectivity of electronic device microstructures has been proposed.
Integrated circuit dies yield model which takes into account the two- and threedimensional defectivity of electronic device microstructures has been proposed.
Description
Keywords
Citation
Дефектність структур електронних засобів та проблема адекватності її розрахунку / В. А. Павлиш, І. В. Данчишин, Р. О. Корж, Д. В. Вишняков // Вісник Національного університету “Львівська політехніка”. — Львів : Видавництво Національного університету “Львівська політехніка”, 2002. — № 440 : Радіоелектроніка та телекомунікації. — С. 33–39.