Дефектність структур електронних засобів та проблема адекватності її розрахунку

Simple item page
dc.citation.epage39
dc.citation.issue440 : Радіоелектроніка та телекомунікації
dc.citation.journalTitleВісник Національного університету “Львівська політехніка”
dc.citation.spage33
dc.contributor.affiliationНаціональний університет "Львівська політехніка"
dc.contributor.authorПавлиш, В. А.
dc.contributor.authorДанчишин, І. В.
dc.contributor.authorКорж, Р. О.
dc.contributor.authorВишняков, Д. В.
dc.coverage.placenameЛьвів
dc.coverage.placenameLviv
dc.date.accessioned2020-03-26T10:57:11Z
dc.date.available2020-03-26T10:57:11Z
dc.date.created2001-03-27
dc.date.issued2001-03-27
dc.description.abstractЗапропоновано модель розрахунку виходу придатних кристалів інтегральних схем із врахуванням дво- та тривимірної дефектності мікроструктур електронних засобів.
dc.description.abstractIntegrated circuit dies yield model which takes into account the two- and threedimensional defectivity of electronic device microstructures has been proposed.
dc.format.extent33-39
dc.format.pages7
dc.identifier.citationДефектність структур електронних засобів та проблема адекватності її розрахунку / В. А. Павлиш, І. В. Данчишин, Р. О. Корж, Д. В. Вишняков // Вісник Національного університету “Львівська політехніка”. — Львів : Видавництво Національного університету “Львівська політехніка”, 2002. — № 440 : Радіоелектроніка та телекомунікації. — С. 33–39.
dc.identifier.citationenDefektnist struktur elektronnykh zasobiv ta problema adekvatnosti yii rozrakhunku / V. A. Pavlysh, I. V. Danchyshyn, R. O. Korzh, D. V. Vyshniakov // Visnyk Natsionalnoho universytetu "Lvivska politekhnika". — Lviv : Vydavnytstvo Natsionalnoho universytetu "Lvivska politekhnika", 2002. — No 440 : Radioelektronika ta telekomunikatsii. — P. 33–39.
dc.identifier.urihttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/47903
dc.language.isouk
dc.publisherВидавництво Національного університету “Львівська політехніка”
dc.relation.ispartofВісник Національного університету “Львівська політехніка”, 440 : Радіоелектроніка та телекомунікації, 2002
dc.relation.references1. Доморацький I.A., Павлиш В.А. Комплексна автоматизація виробництва РЕА (ідеї, моделі, проекти).- K : НМК ВО, 1992. 135 с.
dc.relation.references2. Adler Е. The evolution o f IBM CMOS DRAM Technology // IBM 1 of Res. and Develop .- IBM CMOS Technol- 1995 - V.39- Ns 1/2.
dc.relation.references3. Павлиш В., Данчишт L, Корж P., Вишняков Д. Діагностика поверхневої дефектності напів-провідникових пластині/ Вісн. ".Радіоелектроніка та телекомунікації2001-Ns428.- С.228-233.
dc.relation.references4. Корж Р.О., Данчишин І.В., Заставний Є.Л. Методика оцінки дефектності структур мікроелектронних РЕЗ //Электроника и связь.- 1999. -Ns6.-T.2- С. 81-85. J. Tong Lee-Ing, Wei-1 Lee, Chao-Ton Su Using a Neural Network-Based Approach to Predict the Wafer Yield in Integrated Circuit Manufacturing // IEEE Transactions on Components, Pack., Manufact. Technology - Oct, 1997 - V.20, Ns4-P.288-294.
dc.relation.referencesen1. Domoratskyi I.A., Pavlysh V.A. Kompleksna avtomatyzatsiia vyrobnytstva REA (idei, modeli, proekty), K : NMK VO, 1992. 135 p.
dc.relation.referencesen2. Adler E. The evolution o f IBM CMOS DRAM Technology, IBM 1 of Res. and Develop , IBM CMOS Technol- 1995 - V.39- Ns 1/2.
dc.relation.referencesen3. Pavlysh V., Danchysht L, Korzh P., Vyshniakov D. Diahnostyka poverkhnevoi defektnosti napiv-providnykovykh plastyni/ Visn. ".Radioelektronika ta telekomunikatsii2001-Ns428, P.228-233.
dc.relation.referencesen4. Korzh R.O., Danchyshyn I.V., Zastavnyi Ye.L. Metodyka otsinky defektnosti struktur mikroelektronnykh REZ //Elektronyka y sviaz, 1999. -Ns6.-T.2- P. 81-85. J. Tong Lee-Ing, Wei-1 Lee, Chao-Ton Su Using a Neural Network-Based Approach to Predict the Wafer Yield in Integrated Circuit Manufacturing, IEEE Transactions on Components, Pack., Manufact. Technology - Oct, 1997 - V.20, Ns4-P.288-294.
dc.rights.holder© Національний університет “Львівська політехніка”, 2002
dc.rights.holder© Павлиш В. А., Данчишин І. В., Корж Р. О., Вишняков Д. В., 2002
dc.subject.udc621.396.6.019.3
dc.subject.udc621.38.049.77
dc.titleДефектність структур електронних засобів та проблема адекватності її розрахунку
dc.typeArticle

Files

Original bundle

Now showing 1 - 2 of 2
Thumbnail Image
Name:
2002n440_Pavlish_V_A-Defektnist_struktur_elektronnykh_33-39.pdf
Size:
119.87 KB
Format:
Adobe Portable Document Format
Download
Thumbnail Image
Name:
2002n440_Pavlish_V_A-Defektnist_struktur_elektronnykh_33-39__COVER.png
Size:
3.24 MB
Format:
Portable Network Graphics
Download

License bundle

Now showing 1 - 1 of 1
No Thumbnail Available
Name:
license.txt
Size:
3.01 KB
Format:
Plain Text
Description:
Download

Collections

Радіоелектроніка та телекомунікації. – 2002. – №440