Modeling of threshold voltage in three-dimensional SOI-structures

dc.contributor.authorKogut, І. Т.
dc.contributor.authorScherbyak, V. М.
dc.date.accessioned2011-02-14T14:15:23Z
dc.date.available2011-02-14T14:15:23Z
dc.date.issued2010
dc.description.abstractThis paper proposed an original approach to the analysis of the threshold voltage metal-oxidesemiconductor structures based on local three-dimensional SOI-structures.uk_UA
dc.identifier.citationKogut І. Т. Modeling of threshold voltage in three-dimensional SOI-structures / І. Т. Kogut, V. M. Scherbyak // Сучасні проблеми радіоелектроніки, телекомунікацій, комп’ютерної інженерії : матеріали ХХ Міжнародної конференції TCSET2010, присвяченої 165-й річниці заснування Національного університету «Львівська політехніка», 23–27 лютого 2010 року, Львів, Славське, Україна / Національний університет «Львівська політехніка». – Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2010. – С. 360. – Bibliography: 3 titles.uk_UA
dc.identifier.urihttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/7393
dc.language.isoenuk_UA
dc.publisherВидавництво Львівської політехнікиuk_UA
dc.subjectSOI MOS-transistoruk_UA
dc.subjectthreshold voltageuk_UA
dc.subjectthree-dimensional SOI-structureuk_UA
dc.subjectП-shaped profile gateuk_UA
dc.subjectcylinder shaped gateuk_UA
dc.titleModeling of threshold voltage in three-dimensional SOI-structuresuk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Files

Original bundle

Now showing 1 - 1 of 1
Thumbnail Image
Name:
281.pdf
Size:
70.74 KB
Format:
Adobe Portable Document Format

License bundle

Now showing 1 - 1 of 1
No Thumbnail Available
Name:
license.txt
Size:
1.71 KB
Format:
Item-specific license agreed upon to submission
Description: