Розчинність Cr у катіонній підгратці Ge1-xCrxTe та Ge1-x-yCrxEuyTe

Simple item page
dc.contributor.authorСлинько, Є. І.
dc.contributor.authorСлинько, В. Є.
dc.contributor.authorДобровольський, В.
dc.contributor.authorКіланський, Л.
dc.contributor.authorДомуховський, В.
dc.date.accessioned2014-03-20T12:57:56Z
dc.date.available2014-03-20T12:57:56Z
dc.date.issued2013
dc.description.abstractНа основі даних рентгенівської дифрактометрії, рентгенівського флуоресцентного аналізу, гальваномагнітних і магнітних вимірів встановлено, що при зростанні молярного вмісту хрому в Ge1-xCrxTe та Ge1-x-yCrxEuyTe заповнення кристалічної ґратки відбувається поетапно. Ці етапи ми пов’язуємо з трьома основними положеннями, які можуть займати домішки із змінною валентністю в ідеальній кристалічній гратці типу NaCl. Межа розчинності Cr в катіонній підгратці становить ~0,025 молярних долей, що приблизно відповідає межі між міктомагнетичною і феромагнітною фазами Ge1-xCrxTe. Ми припускаємо, що структура, розмір і властивості нанокластерів конденсованих магнітних напівпровідників, типових для розбавлених магнітних напівпровідників, повинні змінюватись при зміні вмісту магнітної домішки. Based on data of X-ray diffraction, X-ray fluorescence analysis, galvanomagnetic and magnetic measurements, we have found that crystal lattice of Ge1-xCrxTe and Ge1-x-yCrxEuyTe is filled with chromium in several different stages by increasing of its molar content. These stages we associate with three basic positions which impurities with variable valence can occupy in ideal NaCl-type crystal lattice. The limit of solubility of Cr in the cation sublattice is about 0.025 mole fractions which roughly corresponds to the border between mixed magnetic and ferromagnetic phases of Ge1-xCrxTe. We assume that structure, size and properties of nanoclusters of condensed magnetic semiconductors (typical for diluted magnetic semiconductors) should change together with variation of the magnetic impurity content.uk_UA
dc.identifier.citationРозчинність Cr у катіонній підгратці Ge1-xCrxTe та Ge1-x-yCrxEuyTe / Є. І. Слинько, В. Є. Слинько, В. Добровольський, Л. Кіланський, В. Домуховський // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". – 2013. – № 764 : Електроніка. – С. 74–83. – Бібліографія: 13 назв.uk_UA
dc.identifier.urihttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/24008
dc.language.isouauk_UA
dc.publisherВидавництво Львівської політехнікиuk_UA
dc.subjectA4B6uk_UA
dc.subjectрентгенівська дифрактометріяuk_UA
dc.subjectрентгенівський флуоресцентний аналізuk_UA
dc.subjectрозподіл домішокuk_UA
dc.subjectміктомагнетизмuk_UA
dc.subjectзмінна валентністьuk_UA
dc.subjectкатіонна підґраткаuk_UA
dc.subjectмежа розчинностіuk_UA
dc.subjectX-ray diffractometryuk_UA
dc.subjectX-ray fluorescence analysisuk_UA
dc.subjectdistribution of impuritiesuk_UA
dc.subjectmixed magnetismuk_UA
dc.subjectvariable valencyuk_UA
dc.subjectcation sublatticeuk_UA
dc.subjectsolubility limituk_UA
dc.titleРозчинність Cr у катіонній підгратці Ge1-xCrxTe та Ge1-x-yCrxEuyTeuk_UA
dc.title.alternativeSolubility of Cr in the cation sublattice of Ge1-xCrxTe and Ge1-x-yCrxEuyTeuk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Files

Original bundle
Now showing 1 - 1 of 1
No Thumbnail Available
Name:
12-74-83.pdf
Size:
668.83 KB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
Download

Collections

Електроніка. – 2013. – №764