Метод комбінаційного розсіювання світла в термометрії поверхні мікрооб’єктів
| dc.contributor.author | Сегеда, Олег | |
| dc.contributor.author | Яцишин, Святослав | |
| dc.contributor.author | Кривенчук, Юрій | |
| dc.date.accessioned | 2012-12-14T11:29:50Z | |
| dc.date.available | 2012-12-14T11:29:50Z | |
| dc.date.issued | 2012 | |
| dc.description.abstract | Здійснено аналіз вимірювання температури методом комбінаційного розсіювання світла та проведено оцінювання метрологічних характеристик методу. Об’єктом дослідження вибрано мікроконтролер. Осуществлен анализ измерения температуры методом комбинационного рассеяния света, проведено оценивание метрологических характеристик метода. Объектом исследования выбрано микроконтроллер. Errors of the temperature transducer constructed on the basis of the Raman effect are estimated applying the analysis for metrological characteristic divergence. The object of study was chosen microcontroller. | uk_UA |
| dc.identifier.citation | Сегеда О. Метод комбінаційного розсіювання світла в термометрії поверхні мікрооб’єктів / Олег Сегеда, Святослав Яцишин, Юрій Кривенчук // Вимірювальна техніка та метрологія : міжвідомчий науково-технічний збірник / Національний університет "Львівська політехніка" ; відповідальний редактор Б. І. Стадник. - Львів : Видавництво Національного університету "Львівська політехніка", 2012. – Випуск 73. – С. 28–31. – Бібліографія: 7 назв. | uk_UA |
| dc.identifier.uri | https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/16117 | |
| dc.language.iso | ua | uk_UA |
| dc.publisher | Видавництво Львівської політехніки | uk_UA |
| dc.title | Метод комбінаційного розсіювання світла в термометрії поверхні мікрооб’єктів | uk_UA |
| dc.type | Article | uk_UA |