Challenges of Using Machine Learning Algorithms for Evaluating and Predicting Software Defects
Date
2024-05-23
Authors
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Видавництво Львівської політехніки
Lviv Politechnic Publishing House
Lviv Politechnic Publishing House
Abstract
Description
Keywords
Citation
Yakovyna V. Challenges of Using Machine Learning Algorithms for Evaluating and Predicting Software Defects / V. Yakovyna, O. Khil // Сучасні проблеми в радіоелектроніці, телекомунікаціях(СПРТ’2024) : матеріали Міжнародної науково-технічної конференції, 23-24 May 2024. — Lviv Politechnic Publishing House, 2024. — P. 218–221. — (Information Systems and Technologies. Automated Control Systems. Robotics.).