Аналіз сумісного впливу методичної та інструментальної похибок томографії провідності
No Thumbnail Available
Date
2002
Authors
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Видавництво Національного університету "Львівська політехніка"
Abstract
Досліджена залежність сумарної похибки відтворення провідності від кількості апроксимаційних елементів та рівня інструментальних похибок вимірювання електродних величин Показано, що для заданого рівня інструментальної похибки існує оптимальна кількість апроксимаційних елементів, для якої досягається мінімум сумарної похибки. Исследована зависимость суммарной погрешности восстановления проводимости от количества аппроксимирующих элементов и уровня инструментальных погрешностей измерения электродных величин Показано, что для заданного уровня инструментальных погрешностей существует оптимальное количество аппроксимирующих элементов, при котором получается минимум суммарной погрешности. In the article the dependence of the resultant error conductivity reconstruction from the quantity of approximating elements and the level of the instrument errors in the measurement of electrode values is investigated. It is shown that for the assigned level of the instrument errors there is an optimum of approximating elements quantity, for which the value of resultant error becomes minimum.
Description
Keywords
Citation
Дорожовець М. Аналіз сумісного впливу методичної та інструментальної похибок томографії провідності / М. Дорожовець, А. Ковальчик // Вимірювальна техніка та метрологія : міжвідомчий науково-технічний збірник / Національний університет "Львівська політехніка" ; відповідальний редактор Б. І. Стадник. – Львів : Видавництво Національного університету "Львівська політехніка", 2002. – Випуск 59. – С. 115–117. – Бібліографія: 7 назв.