Проблеми відтворення Міжнародної температурної шкали МТШ-90 у діапазоні низьких температур

Loading...
Thumbnail Image

Date

2009

Journal Title

Journal ISSN

Volume Title

Publisher

Видавництво Національного університету «Львівська політехніка»

Abstract

The prospects of application of the strongly alloyed semiconductors are analysed as sensible elements for measuring of low temperatures. The analytical review of the most widespread thermometers, which are used in today's time in the range of low temperatures, their advantages and failings, is conducted.

Description

Keywords

ITS-90, thermometry, sensible elements, low temperatures, strongly alloyed semiconductors, thermometers

Citation

Спондич О. Проблеми відтворення Міжнародної температурної шкали МТШ-90 у діапазоні низьких температур / Олеся Спондич // Енергетика та системи керування : матеріали I Міжнародної конференції молодих вчених EPECS-2009, 14–16 травня 2009 року, Україна, Львів / Національний університет "Львівська політехніка". – Львів : Видавництво Національного університету «Львівська політехніка», 2009. – С. 71–72. – (Міжнародний молодіжний фестиваль науки "Litteris et Artibus"). – Бібліографія: 8 назв.

Endorsement

Review

Supplemented By

Referenced By