Проблеми відтворення Міжнародної температурної шкали МТШ-90 у діапазоні низьких температур

dc.contributor.authorСпондич, Олеся
dc.date.accessioned2010-06-15T09:25:36Z
dc.date.available2010-06-15T09:25:36Z
dc.date.issued2009
dc.description.abstractThe prospects of application of the strongly alloyed semiconductors are analysed as sensible elements for measuring of low temperatures. The analytical review of the most widespread thermometers, which are used in today's time in the range of low temperatures, their advantages and failings, is conducted.uk_UA
dc.identifier.citationСпондич О. Проблеми відтворення Міжнародної температурної шкали МТШ-90 у діапазоні низьких температур / Олеся Спондич // Енергетика та системи керування : матеріали I Міжнародної конференції молодих вчених EPECS-2009, 14–16 травня 2009 року, Україна, Львів / Національний університет "Львівська політехніка". – Львів : Видавництво Національного університету «Львівська політехніка», 2009. – С. 71–72. – (Міжнародний молодіжний фестиваль науки "Litteris et Artibus"). – Бібліографія: 8 назв.uk_UA
dc.identifier.urihttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/4959
dc.language.isouauk_UA
dc.publisherВидавництво Національного університету «Львівська політехніка»uk_UA
dc.subjectITS-90uk_UA
dc.subjectthermometryuk_UA
dc.subjectsensible elementsuk_UA
dc.subjectlow temperaturesuk_UA
dc.subjectstrongly alloyed semiconductorsuk_UA
dc.subjectthermometersuk_UA
dc.titleПроблеми відтворення Міжнародної температурної шкали МТШ-90 у діапазоні низьких температурuk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Files

Original bundle

Now showing 1 - 1 of 1
Thumbnail Image
Name:
25.pdf
Size:
62.7 KB
Format:
Adobe Portable Document Format

License bundle

Now showing 1 - 1 of 1
No Thumbnail Available
Name:
license.txt
Size:
1.71 KB
Format:
Item-specific license agreed upon to submission
Description: