Методика оцінки дефектності структури елементів електроніки за рівнем їх флікер-шуму
| dc.contributor.author | Колодій, З. О. | |
| dc.contributor.author | Недоступ, Л. А. | |
| dc.contributor.author | Колодій, А. З. | |
| dc.date.accessioned | 2010-02-19T15:29:02Z | |
| dc.date.available | 2010-02-19T15:29:02Z | |
| dc.date.issued | 2009 | |
| dc.description.abstract | Запропоновано методику оцінки дефектності структури елементів електроніки за мінімальним значенням спектральної густини потужності їх флікер-шуму і мінімальним значенням середнього квадрата напруги шумів в діапазоні низьких частот. The method of estimation of electronic elements reliability using their minimal value of flicker-noise power spectral density and minimal value of noises voltage average square in the range of low frequencies is proposed. | uk |
| dc.identifier.citation | Колодій З. О. Методика оцінки дефектності структури елементів електроніки за рівнем їх флікер-шуму / З. О. Колодій, Л. А. Недоступ, А. З. Колодій // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". – 2009. – № 645 : Радіоелектроніка та телекомунікації. – С. 236-238. – Бібліографія: 6 назв. | uk |
| dc.identifier.uri | https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/2487 | |
| dc.language.iso | ua | uk |
| dc.publisher | Видавництво Національного університету «Львівська політехніка» | uk |
| dc.subject | спектральна густина | uk |
| dc.subject | флікер-шум | uk |
| dc.subject | spectral density | uk |
| dc.subject | flicker-noise | uk |
| dc.title | Методика оцінки дефектності структури елементів електроніки за рівнем їх флікер-шуму | uk |
| dc.type | Article | uk |