Analysis of Electromigration in MWO4 (M=Ca, Cd, Pb, Zn) Crystals and their Structural Defects

Simple item page
dc.citation.conferenceМіжнародна наукова конференція "Оксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування"
dc.citation.epage61
dc.citation.journalTitleОксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування : збірник тез міжнародної наукової конференції
dc.citation.spage61
dc.contributor.affiliationDepartment of Electronics and Computational Technologies
dc.contributor.affiliationIvan Franko National University of Lviv, 50 Drahomanov Street, 79005 Lviv, Ukraine
dc.contributor.affiliationshevchuk@electronics.lnu.edu.ua
dc.contributor.authorShevchuk, V. N.
dc.contributor.authorKayun, I. V.
dc.coverage.placenameЛьвів
dc.coverage.placenameLviv
dc.coverage.temporal29 травня–2 червня, 2017 Львів, Україна
dc.coverage.temporalMay 29–June 2, 2017 Lviv, Ukraine
dc.date.accessioned2018-04-02T13:41:56Z
dc.date.available2018-04-02T13:41:56Z
dc.date.created2017-05-29
dc.date.issued2017-05-29
dc.format.extent61
dc.format.pages1
dc.identifier.citationShevchuk V. N. Analysis of Electromigration in MWO4 (M=Ca, Cd, Pb, Zn) Crystals and their Structural Defects / V. N. Shevchuk, I. V. Kayun // Oxide Materials for Electronic Engineering – fabrication, properties and applications : book of abstracts international conference, May 29–June 2, 2017 Lviv, Ukraine. — Lviv, 2017. — P. 61. — (2 active media fundamentals: crystal structure and defects).
dc.identifier.citationenShevchuk V. N. Analysis of Electromigration in MWO4 (M=Ca, Cd, Pb, Zn) Crystals and their Structural Defects / V. N. Shevchuk, I. V. Kayun // Oxide Materials for Electronic Engineering – fabrication, properties and applications : book of abstracts international conference, May 29–June 2, 2017 Lviv, Ukraine. — Lviv, 2017. — P. 61. — (2 active media fundamentals: crystal structure and defects).
dc.identifier.urihttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/40173
dc.language.isoen
dc.relation.ispartofОксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування : збірник тез міжнародної наукової конференції, 2017
dc.relation.ispartofOxide Materials for Electronic Engineering – fabrication, properties and applications : book of abstracts international conference, 2017
dc.relation.referencesen[1] V.N. Shevchuk, I.V. Kayun, Acta Phys. Polon. A 117(1) (2010) 150-154.
dc.relation.referencesen[2] V.N. Shevchuk, I.V. Kayun, Chem. Met. Alloys 4 (2011) 72-76.
dc.relation.referencesen[3] A.K. Ivanov-Shits, I.V. Murin, Ionic of solid state. In 2 vol., Vol. 1, St. Peterburg University Press, St. Peterburg, 2000, 616 p.; Vol. 2, 2010, 1000 p.
dc.relation.referencesen[4] Е.Yu. Konysheva, А.Ya. Neiman, Е.M. Gorbunova, Izvestiya RAN. Seriya Fiz 66(6) (2002) 830-833.
dc.relation.referencesen[5] J.A. Groenink, H. Binsma, J. Sol. State Chem. 29(2) (1979) 227-236.
dc.relation.referencesen[6] V.A. Blatov, G.D. Illyushin, O.A. Blatova, N.A. Anurova, A.K. Ivanov-Shits, L.N. Dem’yanets, Acta Crystallogr. Sect. B 62 (2006) 1010-1018.
dc.relation.referencesen[7] V.A. Blatov, IUCr CompComm Newsletter 7 (2006) 4-38.
dc.relation.referencesen[8] V.N. Shevchuk, I.V. Kayun, Proc. Int. Conf. Oxide Materials for Electronic Engineering, OMEE-2014, Lviv, Ukraine, 2014, pp. 117-118.
dc.relation.referencesen[9] V.N. Shevchuk, I.V. Kayun, Proc. Fifth Int. Conf. Analytic Number Theory and Spatial Tessellations, Kyiv, Ukraine, 2013, pp. 83-84.
dc.relation.referencesen[10] V. Shevchuk, I. Kayun, Proc. VIIIth Ukrainian-Polish Sci. Pract. Conf. Electronics and Information Technologies, Lviv-Chynadiyevo, Ukraine, 2016, pp. 167-170.
dc.rights.holder© Національний університет “Львівська політехніка”, 2017
dc.titleAnalysis of Electromigration in MWO4 (M=Ca, Cd, Pb, Zn) Crystals and their Structural Defects
dc.typeConference Abstract

Files

Original bundle

Now showing 1 - 2 of 2
Thumbnail Image
Name:
OMEE_2017_Shevchuk_V_N-Analysis_of_Electromigration_61.pdf
Size:
51.28 KB
Format:
Adobe Portable Document Format
Download
Thumbnail Image
Name:
OMEE_2017_Shevchuk_V_N-Analysis_of_Electromigration_61__COVER.png
Size:
1.22 MB
Format:
Portable Network Graphics
Download

License bundle

Now showing 1 - 1 of 1
No Thumbnail Available
Name:
license.txt
Size:
2.91 KB
Format:
Plain Text
Description:
Download

Collections

Оксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування (OMEE-2017). – 2017 р.