Моделювання впливу паразитних міжелектродних ємностей логарифмічних АЦП з накопиченням заряду на пасивних конденсаторних комірках

dc.contributor.authorМичуда, З.
dc.date.accessioned2017-03-31T07:34:58Z
dc.date.available2017-03-31T07:34:58Z
dc.date.issued2001
dc.description.abstractЗапропоновано математичні моделі похибок логарифмічних АЦП з накопиченням заряду на пасивних конденсаторних комірках, наведено результати моделювання та дано оцінку точності Предложены математические модели погрешностей логарифмических АЦП с накоплением заряда на пассивных конденсаторных ячейках, приведены результаты моделирования и дана оценка точности. The mathematical models of errors of logarithmic ADC, based on accumulation of a charge in commuted condensers, are offered, the results of modelling are presented and the valuation of accuracy are given.uk_UA
dc.identifier.citationМичуда З. Моделювання впливу паразитних міжелектродних ємностей логарифмічних АЦП з накопиченням заряду на пасивних конденсаторних комірках / З. Мичуда // Вимірювальна техніка та метрологія : міжвідомчий науково-технічний збірник / Національний університет "Львівська політехніка" ; відповідальний редактор Б. І. Стадник. – Львів : Видавництво Національного університету "Львівська політехніка", 2001. – Випуск 58. – С. 26–32. – Бібліографія: 15 назв.uk_UA
dc.identifier.urihttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/37006
dc.language.isouauk_UA
dc.publisherВидавництво Національного університету «Львівська політехніка»uk_UA
dc.titleМоделювання впливу паразитних міжелектродних ємностей логарифмічних АЦП з накопиченням заряду на пасивних конденсаторних коміркахuk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Files

Original bundle

Now showing 1 - 1 of 1
Thumbnail Image
Name:
5_26-32.pdf
Size:
186.03 KB
Format:
Adobe Portable Document Format

License bundle

Now showing 1 - 1 of 1
No Thumbnail Available
Name:
license.txt
Size:
1.71 KB
Format:
Item-specific license agreed upon to submission
Description: