Devices and systems design reliability estimation
| dc.contributor.author | Nedostup, Leonid | |
| dc.contributor.author | Bobalo, Yuriy | |
| dc.contributor.author | Kiselychnyk, Myroslav | |
| dc.contributor.author | Lazko, Oxana | |
| dc.date.accessioned | 2012-09-11T08:46:48Z | |
| dc.date.available | 2012-09-11T08:46:48Z | |
| dc.date.issued | 2012 | |
| dc.description.abstract | The updated approach for devices and systems reliability estimation was proposed. An two-dimensional "Stress–strength" probability model based on application of Gram-Charlier and Edgeworth rows was obtained. | uk_UA |
| dc.identifier.citation | Devices and systems design reliability estimation / Leonid Nedostup, Yuriy Bobalo, Myroslav Kiselychnyk, Oxana Lazko // Сучасні проблеми радіоелектроніки, телекомунікацій, комп’ютерної інженерії : матеріали ХІ Міжнародної конференції TCSET2012, присвяченої 60-річчю заснування радіотехнічного факультету у Львівській політехніці, 21-24 лютого 2012 року, Львів, Славське, Україна / Національний університет «Львівська політехніка». – Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2012. – С. 45–46. – Bibliography: 3 titles. | uk_UA |
| dc.identifier.uri | https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/14205 | |
| dc.language.iso | en | uk_UA |
| dc.publisher | Видавництво Львівської політехніки | uk_UA |
| dc.subject | design reliability | uk_UA |
| dc.subject | stress-strength models | uk_UA |
| dc.subject | Gram-Charlier rows | uk_UA |
| dc.title | Devices and systems design reliability estimation | uk_UA |
| dc.type | Article | uk_UA |