Метод двократних вимірювань для заповнення матриць фотопружного ефекту кристалів різних класів симетрії апробація методу на прикладі кристалів ß-BaB2Ü4

Simple item page
dc.citation.journalTitleВісник Національного університету "Львівська політехніка"
dc.contributor.affiliationНаціональний університет "Львівська політехніка"uk_UA
dc.contributor.authorАндрущак, A. C.
dc.contributor.authorБобицький, Я. В.
dc.contributor.authorГнатик, Б. І.
dc.contributor.authorКайдан, М. В.
dc.contributor.authorМицик, Б. Г.
dc.coverage.countryUAuk_UA
dc.coverage.placenameЛьвівuk_UA
dc.date.accessioned2018-03-12T14:25:44Z
dc.date.available2018-03-12T14:25:44Z
dc.date.issued2002
dc.description.abstractДля запропонованої модифікації інтерферометричного методу вимірювань п’єзооптичних коефіцієнтів виведені співвідношення, які дають змогу визначити всі компоненти тензора п’єзооптичного ефекту кристалів триклінної симетрії. На основі цих співвідношень можна точніше визначити ненульові п’єзооптичні, а також пружнооптичні коефіцієнти кристалів усіх класів симетрії. Експериментальну апробацію методу двократних вимірювань проведено на кристалах Р-ВаВ2О4. На основі заповненої матриці п’єзооптичних коефіцієнтів розраховано величину та знак всіх компонент тензора пружнооптичного ефекту цих кристалів. The relationships for determination of all components of piezooptical effect tensor of the triclinic symmetry crystals proposed by the modifical interferometrical method of piezooptical coefficients measurement are presented. These relationships also allow to determine higher accuracy of the non-zero piezooptical as well as elastooptical coefficients for crystals of all symmetry groups. Using the example of P-BaB2O4 crystals the experimental approbation of the proposed two-stage measurement method is held. On the basis of a completed piezooptical coefficients matrix the magnitude and sign of all elastooptical coefficients are calculated.uk_UA
dc.format.pages110-120
dc.identifier.citationМетод двократних вимірювань для заповнення матриць фотопружного ефекту кристалів різних класів симетрії апробація методу на прикладі кристалів ß-BaB2Ü4 / А. С. Андрущак, Я. В. Бобицький, Б. І. Гнатик, М. В. Кайдан, Б. Г. Мицик // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". – 2002. – № 455 : Електроніка. – С. 110–120. – Бібліографія: 11 назв.uk_UA
dc.identifier.urihttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/39596
dc.language.isoukuk_UA
dc.publisherВидавництво Національного університету "Львівська політехніка"uk_UA
dc.relation.references1. Brewster D. // Trans. Roy. Soc Edinb. -1818. - S. - P. 281-292. 2. Bлox О.Г., Мыцык Б.Г., Aндpyщaк A.C, npbipиз Я.В. / / Кpucmaллoгpaфuя. - 2000. - 45. - C. 138-142. 3. Andrushchak A.S., Adamiv V.T., Krupych O.M., Martynyuk-Lototska I., Burak Ya.V. and Vlokh R.O. / / Ferroelectrics. - 2000. - 23S. - P. 299-305. 4. Narasimhamurty T.S. // Photoelastical and Electrooptical Properties o f Crystals, Osmania University, Hyderabad India, Plenum Press. - New-York and London, 1981. З. M ytsyk B.G., Pryriz Ya.V. and Andrushchak A.S. / / Cryst. Res. Technol. - 1991. - 26. - P. 931-940. 6. Мицик Б.Г., Aндpyщaк A. C. // y p . фіз. 'y p K -1993. - 3S. - C. 1015-1021. 7. Мыцык Б.Г., Ocmanюк В.В. / A H yCCP. Ин-m meopem. Физики; ИТФ-90-15Р. - npenp. - К., 1992. 8. Chen C., Wu Yi and Li Rukang J. // Cryst. Growth. -1990. - 99. - P. 790-793. 9. Eimeri D., Davis L., Velsko S., Graham E.K. and Zalkin A. / / J. Appl. Phys. - 1987. - 62. - P. 19б8-1983. 10. Liebertz J. Z. //Krist. -1988. - 1S2. - P. 307-311. 11. Бaлaкшuй В.И., Пapыгuн В.Н., Qupme Л.Е. / / Ф ^ ьчєсшє ocнoвы aкycmoonmuкu. - М., 198З.uk_UA
dc.rights.holderАндрущак А. С., Бобицький Я. В., Гнатик Б. І., Кайдан М. В., Мицик Б. Г., 2002uk_UA
dc.subject.udc548.0:535.511uk_UA
dc.titleМетод двократних вимірювань для заповнення матриць фотопружного ефекту кристалів різних класів симетрії апробація методу на прикладі кристалів ß-BaB2Ü4uk_UA
dc.title.alternativeThe two-stage measurement method for the photoelastical effect matrices filling of different symmetry crystals on example of р-вав2 о4 crystalsuk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Files

License bundle
Now showing 1 - 1 of 1
No Thumbnail Available
Name:
license.txt
Size:
2.99 KB
Format:
Item-specific license agreed upon to submission
Description:
Download

Collections

Електроніка. – 2002. – №455