Визначення оптичних характеристик тонкоплівкових структур за інтерференційними спектрами відбиття
dc.contributor.author | Данилов, А. Б. | |
dc.contributor.author | Циган, О. В. | |
dc.date.accessioned | 2013-04-16T09:33:30Z | |
dc.date.available | 2013-04-16T09:33:30Z | |
dc.date.issued | 2012 | |
dc.identifier.citation | Данилов А. Б. Визначення оптичних характеристик тонкоплівкових структур за інтерференційними спектрами відбиття / А. Б. Данилов, О. В. Циган // Десята відкрита наукова конференція Інституту прикладної математики та фундаментальних наук (ІМФН) : збірник матеріалів та програма конференції PSC-IMFS-10, 17–18 травня 2012 року (Львів, Україна) / Національний університет “Львівська політехніка”, Інститут прикладної математики та фундаментальних наук. – Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2012. – C. D.5. | uk_UA |
dc.identifier.uri | https://ena.lpnu.ua/handle/ntb/18082 | |
dc.language.iso | ua | uk_UA |
dc.publisher | Видавництво Львівської політехніки | uk_UA |
dc.title | Визначення оптичних характеристик тонкоплівкових структур за інтерференційними спектрами відбиття | uk_UA |
dc.type | Article | uk_UA |