Моделювання впливу паразитних міжелектродних ємностей в логарифмічних АЦП з нагромадженням заряду на послідовних пасивних конденсаторних комірках

Loading...
Thumbnail Image

Date

2008

Journal Title

Journal ISSN

Volume Title

Publisher

Видавництво Національного університету «Львівська політехніка»

Abstract

Запропоновано математичні моделі похибок логарифмічних АЦП з нагромадженням заряду на послідовних пасивних конденсаторних комірках, наведено результати моделювання та дано оцінку точності. The mathematical models of errors of logarithmic ADC, based on accumulation of a charge in serial passiv condensers cells are offered, the results of modelling are presented and the valuation of accuracy are given.

Description

Keywords

логарифмічні АЦП, математичні моделі похибок

Citation

Мичуда З. Р. Моделювання впливу паразитних міжелектродних ємностей в логарифмічних АЦП з нагромадженням заряду на послідовних пасивних конденсаторних комірках / З. Р. Мичуда, Л. З. Мичуда, У. С. Антонів // Вісник Національного університету «Львівська політехніка». – 2008. – № 617 : Теплоенергетика. Інженерія довкілля. Автоматизація. – С. 163–170. – Бібліографія: 7 назв.

Endorsement

Review

Supplemented By

Referenced By