Моделювання впливу паразитних міжелектродних ємностей в логарифмічних АЦП з нагромадженням заряду на послідовних пасивних конденсаторних комірках
No Thumbnail Available
Files
Date
2008
Authors
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Видавництво Національного університету «Львівська політехніка»
Abstract
Запропоновано математичні моделі похибок логарифмічних АЦП з нагромадженням заряду на послідовних пасивних конденсаторних комірках, наведено результати моделювання та дано оцінку точності. The mathematical models of errors of logarithmic ADC, based on accumulation of a charge in serial passiv condensers cells are offered, the results of modelling are presented and the valuation of accuracy are given.
Description
Keywords
логарифмічні АЦП, математичні моделі похибок
Citation
Мичуда З. Р. Моделювання впливу паразитних міжелектродних ємностей в логарифмічних АЦП з нагромадженням заряду на послідовних пасивних конденсаторних комірках / З. Р. Мичуда, Л. З. Мичуда, У. С. Антонів // Вісник Національного університету «Львівська політехніка». – 2008. – № 617 : Теплоенергетика. Інженерія довкілля. Автоматизація. – С. 163–170. – Бібліографія: 7 назв.