Прогнозування та реалізація термоелементів на основі термометричного матеріалу Zr1-xErxNiSn

dc.contributor.authorКрайовський, Роман
dc.contributor.authorРомака, Володимир
dc.date.accessioned2010-12-06T09:36:06Z
dc.date.available2010-12-06T09:36:06Z
dc.date.issued2010
dc.description.abstractДосліджено температурні та концентраційні залежності питомого опору, коефіцієнта термо-ЕРС, а також енергетичні характеристики у Zr1-xErxNiSn діапазонах, Т = 80 ÷ 380 К, х = 0÷ 0,50. Исследованы температурные и концентрационные зависимости удельного сопротивления, коэффициента термо-ЭДС, а также энергетические характеристики Zr1-xErxNiSn в диапазонах, Т = 80 ÷ 380 К, х = 0÷ 0,50. The temperature and concentration dependencies of resistivity, thermopower and also power descriptions of Zr1-xErxNiSn semiconductor in ranges, T = 80 ÷ 380 K and x = 0 ÷ 0,50, respectively were investigated.uk_UA
dc.identifier.citationКрайовський Р. Прогнозування та реалізація термоелементів на основі термометричного матеріалу Zr1-xErxNiSn / Роман Крайовський, Володимир Ромака // Вимірювальна техніка та метрологія : міжвідомчий науково-технічний збірник / Національний університет "Львівська політехніка" ; відповідальний редактор Б. І. Стадник. – Львів : Видавництво Національного університету "Львівська політехніка", 2010. – Випуск 71. – С. 88–94. – Бібліографія: 5 назв.uk_UA
dc.identifier.urihttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/6604
dc.language.isouauk_UA
dc.publisherВидавництво Національного університету “Львівська політехніка”uk_UA
dc.titleПрогнозування та реалізація термоелементів на основі термометричного матеріалу Zr1-xErxNiSnuk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Files

Original bundle

Now showing 1 - 1 of 1
Thumbnail Image
Name:
17.pdf
Size:
365.46 KB
Format:
Adobe Portable Document Format

License bundle

Now showing 1 - 1 of 1
No Thumbnail Available
Name:
license.txt
Size:
1.71 KB
Format:
Item-specific license agreed upon to submission
Description: