Physical properties of thin ZnO layers

dc.contributor.authorBulanyi, M. F.
dc.contributor.authorKovalenko, O. V.
dc.contributor.authorOmelchuk, A. R.
dc.contributor.authorPolozov, K. Yu.
dc.contributor.authorSkuratovskaya, O. V.
dc.date.accessioned2012-09-26T13:41:39Z
dc.date.available2012-09-26T13:41:39Z
dc.date.issued2012
dc.description.abstractIt has been investigations the photoluminescence spectra, form of the surface and x-ray diffraction analyzing of ZnO epitaxial layers grown by VPE and MOCVD technology.uk_UA
dc.identifier.citationPhysical properties of thin ZnO layers / M. F. Bulanyi, O. V. Kovalenko, A. R. Omelchuk, K. Yu. Polozov, O. V. Skuratovskaya // Сучасні проблеми радіоелектроніки, телекомунікацій, комп’ютерної інженерії : матеріали ХІ Міжнародної конференції TCSET2012, присвяченої 60-річчю заснування радіотехнічного факультету у Львівській політехніці, 21-24 лютого 2012 року, Львів, Славське, Україна / Національний університет «Львівська політехніка». – Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2012. – С. 534. – Bibliography: 2 titles.uk_UA
dc.identifier.urihttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/14665
dc.language.isoenuk_UA
dc.publisherВидавництво Львівської політехнікиuk_UA
dc.subjectzinc oxideuk_UA
dc.subjectphotoluminescenceuk_UA
dc.subjectx-ray diffraction analyzinguk_UA
dc.subjectmorphology of surfaceuk_UA
dc.titlePhysical properties of thin ZnO layersuk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Files

Original bundle

Now showing 1 - 1 of 1
Loading...
Thumbnail Image
Name:
379.pdf
Size:
198.3 KB
Format:
Adobe Portable Document Format

License bundle

Now showing 1 - 1 of 1
Loading...
Thumbnail Image
Name:
license.txt
Size:
2.06 KB
Format:
Item-specific license agreed upon to submission
Description: