Фототепловий метод визначення параметрів тонких плівок
No Thumbnail Available
Files
Date
2009
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Видавництво Національного університету “Львівська політехніка”
Abstract
Розроблено фототепловий метод контролю параметрів тонкоплівкових покриттів, зокрема, поглинання, температуропровідності, товщини. Для реалізації методу розроблено математичну модель та програмне забезпечення, що дає змогу числовими методами розрахувати просторово-часовий розподіл температурних змін на поверхні досліджуваного зразка типу “підкладка-плівка” за опромінення його лазерним пучком з заданими енергетичними та просторово-часовими характеристиками. Проведено теоретичнi дослідження, що дасть змогу встановити залежність теплового відгуку на поверхні зразка від параметрів покриття під час використання імпульсного збуджувального випромінювання. The photothermal method of control of the thin-film coating parameters (absorption, thermal conductivity, thicknesses) is developed. The mathematical model and the developed software allow to determinate the spatial-temporal distribution of temperature changes on the surface of the investigated “substrate-film” sample caused by laser irradiation under given parameters of the laser beam.The theoretical investigations allow to determine the dependence
of the thermal response on the surface of the sample from the parameters of coatings under heating by continuous and pulse exciting radiation.
Description
Keywords
тонкоплівкові покриття, просторово-часовий розподіл температурних змін, thin-film coating, spatial-temporal distribution of temperature changes
Citation
Демкович І. В. Фототепловий метод визначення параметрів тонких плівок / І. В. Демкович, Г. А. Петровська, Я. В. Бобицький // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". – 2009. – № 646 : Електроніка. – С. 191–196. – Бібліографія: 4 назви.