Напруження в системах Si-SiO2 як причина утворення дефектів

Loading...
Thumbnail Image

Date

2011

Journal Title

Journal ISSN

Volume Title

Publisher

Видавництво Львівської політехніки

Abstract

Description

Keywords

Citation

Логуш О. І. Напруження в системах Si-SiO2 як причина утворення дефектів / О. І. Логуш, Ю. М. Білинський// Чотирнадцята відкрита науково-технічна конференція Інституту телекомунікацій, радіоелектроніки та електронної техніки Національного університету "Львівська політехніка" з проблем електроніки : тези доповідей, 5–7 квітня 2011 р., Львів / Національний університет "Львівська політехніка". – Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2011. – С. 41.

Endorsement

Review

Supplemented By

Referenced By