Якість процесу обробки сигналу і зв’язок з кореляційним аналізом

dc.contributor.authorЧабан, О. П.
dc.contributor.authorЮзевич, В. М.
dc.date.accessioned2012-03-06T10:11:05Z
dc.date.available2012-03-06T10:11:05Z
dc.date.issued2006
dc.description.abstractРозглянуто методику оцінки якості системи обробки сигналів на прикладі взаємодії оптичного випромінювання з поверхневими шарами порошкового матеріалу. Отримана за допомогою оптичного сенсора інформація дає можливість визначати параметри мікроструктури поверхневих шарів і на основі експертного методу оцінити якість відповідної обробки та аналізу сигналів. Між наборами параметрів, що відповідають обробці сигналів, визначено коефіцієнт кореляції Kk = 0,785. The technique of an estimation of quality of processing signals system is considered by the example of interaction of optical radiation with superficial layers of a powder material. The information is received with the help of an optical sensor control enables to determine parameters of a microstructure of superficial layers and on the basis of an expert method to estimate quality of corresponding processing and the analysis of signals. Between sets of parameters which answer processing of signals, definitely factor of correlation Kk = 0,785.uk_UA
dc.identifier.citationЧабан О. П. Якість процесу обробки сигналу і зв’язок з кореляційним аналізом // О. П. Чабан, В. М. Юзевич // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". – 2006. – № 551 : Автоматика, вимірювання та керування. – С. 95–101. – Бібліографія: 11 назв.uk_UA
dc.identifier.urihttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/11770
dc.language.isouauk_UA
dc.publisherВидавництво Національного університету “Львівська політехніка”uk_UA
dc.titleЯкість процесу обробки сигналу і зв’язок з кореляційним аналізомuk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Files

Original bundle

Now showing 1 - 1 of 1
Thumbnail Image
Name:
18_yakist procesy.pdf
Size:
1.69 MB
Format:
Adobe Portable Document Format

License bundle

Now showing 1 - 1 of 1
No Thumbnail Available
Name:
license.txt
Size:
2.06 KB
Format:
Item-specific license agreed upon to submission
Description: