Predicting the reliability of radio-electronic devices by the results of production defectiveness monitoring

Simple item page
dc.contributor.authorBobalo, Yuriy
dc.contributor.authorNedostup, Leonid
dc.contributor.authorKiselychnyk, Myroslav
dc.contributor.authorMelen, Myhaylo
dc.date.accessioned2013-12-24T14:57:37Z
dc.date.available2013-12-24T14:57:37Z
dc.date.issued2011
dc.description.abstractThis work is devoted to modeling and optimization of radio-electronic devices production processes to ensure the desired reliability.uk_UA
dc.identifier.citationPredicting the reliability of radio-electronic devices by the results of production defectiveness monitoring / Yuriy Bobalo, Leonid Nedostup, Myroslav Kiselychnyk, Myhaylo Melen // Обчислювальні проблеми електротехніки : матеріали XII Міжнародного симпозіуму CPEE’2011, 5–7 вересня 2011 року, Кострино, Закарпатська область, Україна / Національний університет «Львівська політехніка», Варшавський технологічний університет, Лодзький технічний університет, Університет Західної Богемії. – Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2011. – C. 53. – Bibliography: 3 titles.uk_UA
dc.identifier.urihttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/22444
dc.language.isoenuk_UA
dc.publisherВидавництво Львівської політехнікиuk_UA
dc.subjectproduction of electronic devicesuk_UA
dc.subjectmodelinguk_UA
dc.subjectdefectivenessuk_UA
dc.subjectreliabilityuk_UA
dc.titlePredicting the reliability of radio-electronic devices by the results of production defectiveness monitoringuk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Files

Original bundle
Now showing 1 - 1 of 1
No Thumbnail Available
Name:
45-Bobalo-53.pdf
Size:
196.56 KB
Format:
Adobe Portable Document Format
Download
License bundle
Now showing 1 - 1 of 1
No Thumbnail Available
Name:
license.txt
Size:
1.71 KB
Format:
Item-specific license agreed upon to submission
Description:
Download

Collections

Обчислювальні проблеми електротехніки (CPEE’2011) – 2011 р.