Програмне забезпечення комплексної оптимізації виробничих систем

Simple item page
dc.citation.epage67
dc.citation.issue522 : Комп’ютерні системи проектування. Теорія і практика
dc.citation.journalTitleВісник Національного університету “Львівська політехніка”
dc.citation.spage62
dc.contributor.affiliationНаціональний університет “Львівська політехніка”
dc.contributor.authorНедоступ, Л. А.
dc.contributor.authorБобало, Ю. Я.
dc.contributor.authorКіселичник, М. Д.
dc.contributor.authorЛазько, О. В.
dc.contributor.authorВаськів, Г. М.
dc.coverage.placenameЛьвів
dc.coverage.placenameLviv
dc.date.accessioned2020-03-23T07:48:39Z
dc.date.available2020-03-23T07:48:39Z
dc.date.created2004-02-18
dc.date.issued2004-02-18
dc.description.abstractОписується програмний комплекс “ДРЕЙФ”, призначений для вирішення завдань комплексної оптимізацГї технологічних процесів виготовлення радіоелектронних пристроїв за критерієм мінімуму сумарних витрат на забезпечення їх якості та надійності.
dc.description.abstractThe “DREYF” software designed for the complex optimization of electronic devices production process problem solution by criterion of total costs minimum is described.
dc.format.extent62-67
dc.format.pages6
dc.identifier.citationПрограмне забезпечення комплексної оптимізації виробничих систем / Л. А. Недоступ, Ю. Я. Бобало, М. Д. Кіселичник, О. В. Лазько, Г. М. Васьків // Вісник Національного університету “Львівська політехніка”. — Львів : Видавництво Національного університету “Львівська політехніка”, 2004. — № 522 : Комп’ютерні системи проектування. Теорія і практика. — С. 62–67.
dc.identifier.citationenProhramne zabezpechennia kompleksnoi optymizatsii vyrobnychykh system / L. A. Nedostup, Yu. Ya. Bobalo, M. D. Kiselychnyk, O. V. Lazko, H. M. Vaskiv // Visnyk Natsionalnoho universytetu "Lvivska politekhnika". — Lviv : Vydavnytstvo Natsionalnoho universytetu "Lvivska politekhnika", 2004. — No 522 : Kompiuterni systemy proektuvannia. Teoriia i praktyka. — P. 62–67.
dc.identifier.urihttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/47557
dc.language.isouk
dc.publisherВидавництво Національного університету “Львівська політехніка”
dc.relation.ispartofВісник Національного університету “Львівська політехніка”, 522 : Комп’ютерні системи проектування. Теорія і практика, 2004
dc.relation.references1. Бобало Ю.Я., Кіселичник М.Д., Недоступ Л.А. Системний аналіз якості виробництва прецизійної радіоелектронної апаратури. - Львів, 1996. - 167 с.
dc.relation.references2. Кіселичник М.Д. Моделювання та оптимізація процесів забезпечення якості. - Львів: 2001. - 168 с.
dc.relation.references3. Lee, Sherry F., Eric D. Boskin, Hao Cheng Liu, Eddie H. Wen, and Costas J. Spanos. "RTSPC: A Software Utility for Real-Time SPC and Tool Data Analysis." IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, vol. 8, no. 1, - p. 17-25.
dc.relation.references4. Rao, Suraj, Andrej J. Strojwas, John P. Lehoczky, and Mark J. Schervish. "Monitoring Multistage Integrated Circuit Fabrication Processes." IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, vol. 9, no. 4, - p. 495-505.
dc.relation.references5. Spanos, Costas J. and Raymond L. Chen. "Using Qualitative Observations for Process Tuning and Control." IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, vol. 10, № 2, - p. 307-316.
dc.relation.references6. Spanos, Costa J.,Hai-Fang Guo, Alan Miller, and Joanne Levine-Parrill.'Real Time Statistical Process Control Using Tool Data." IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, vol. 5, № 4, - p. 308-318.
dc.relation.references7. Mozumder, Pumendu K. and Andrzej J. Strojwas. "Statistical Control of VLSI Fabrication Processes." IEEE Transactions on Components, Hybrids, and Manufacturing Technology, vol. 17, № 3,-p. 467-475.
dc.relation.referencesen1. Bobalo Yu.Ya., Kiselychnyk M.D., Nedostup L.A. Systemnyi analiz yakosti vyrobnytstva pretsyziinoi radioelektronnoi aparatury, Lviv, 1996, 167 p.
dc.relation.referencesen2. Kiselychnyk M.D. Modeliuvannia ta optymizatsiia protsesiv zabezpechennia yakosti, Lviv: 2001, 168 p.
dc.relation.referencesen3. Lee, Sherry F., Eric D. Boskin, Hao Cheng Liu, Eddie H. Wen, and Costas J. Spanos. "RTSPC: A Software Utility for Real-Time SPC and Tool Data Analysis." IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, vol. 8, no. 1, p. 17-25.
dc.relation.referencesen4. Rao, Suraj, Andrej J. Strojwas, John P. Lehoczky, and Mark J. Schervish. "Monitoring Multistage Integrated Circuit Fabrication Processes." IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, vol. 9, no. 4, p. 495-505.
dc.relation.referencesen5. Spanos, Costas J. and Raymond L. Chen. "Using Qualitative Observations for Process Tuning and Control." IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, vol. 10, No 2, p. 307-316.
dc.relation.referencesen6. Spanos, Costa J.,Hai-Fang Guo, Alan Miller, and Joanne Levine-Parrill.'Real Time Statistical Process Control Using Tool Data." IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, vol. 5, No 4, p. 308-318.
dc.relation.referencesen7. Mozumder, Pumendu K. and Andrzej J. Strojwas. "Statistical Control of VLSI Fabrication Processes." IEEE Transactions on Components, Hybrids, and Manufacturing Technology, vol. 17, No 3,-p. 467-475.
dc.rights.holder© Національний університет “Львівська політехніка”, 2004
dc.rights.holder© Недоступ Л. А., Бобало Ю. Я., Кіселичник М. Д., Лазько О. В., Васьків Г. М., 2004
dc.subject.udc658.562
dc.titleПрограмне забезпечення комплексної оптимізації виробничих систем
dc.typeArticle

Files

Original bundle

Now showing 1 - 2 of 2
Thumbnail Image
Name:
2004n522_Nedostup_L_A-Prohramne_zabezpechennia_62-67.pdf
Size:
418.13 KB
Format:
Adobe Portable Document Format
Download
Thumbnail Image
Name:
2004n522_Nedostup_L_A-Prohramne_zabezpechennia_62-67__COVER.png
Size:
456.65 KB
Format:
Portable Network Graphics
Download

License bundle

Now showing 1 - 1 of 1
No Thumbnail Available
Name:
license.txt
Size:
3.04 KB
Format:
Plain Text
Description:
Download

Collections

Комп'ютерні системи проектування теорія і практика. – 2004. – №522