Application of envelope function method for multibeam interference extremums to the ellipsometry electromagnetic waves by single-layered coatings

dc.contributor.authorKosobutskyy, P.
dc.contributor.authorHanas, Yu.
dc.date.accessioned2016-06-14T13:14:49Z
dc.date.available2016-06-14T13:14:49Z
dc.date.issued2012
dc.description.abstractThe physical principles of application of the envelope function for multibeam interference spectra extremums to the ellipsometry of light reflection for plane wave incidence on transparent and absorptive monolayered structures were for the first time established. Вперше визначено фізичні принципи застосування обвідної функції до екстремумів спектрів багатопроменевої інтерференції в еліпсометрії відбиття світла на площину падіння хвилі на прозорі й абсорбуючі одношарові структури.uk_UA
dc.identifier.citationKosobutskyy P. Application of envelope function method for multibeam interference extremums to the ellipsometry electromagnetic waves by single-layered coatings / P. Kosobutskyy, Yu. Hanas // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". – 2012. – № 747 : Комп'ютерні системи проектування. Теорія і практика. – С. 83–86. – Bibliography: 5 titles.uk_UA
dc.identifier.urihttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/33255
dc.language.isoenuk_UA
dc.publisherВидавництво Львівської політехнікиuk_UA
dc.subjectmethod for Fabry-Perotuk_UA
dc.subjectellipsometryuk_UA
dc.subjectelectromagnetic wavesuk_UA
dc.subjectметод Фабрі-Пероuk_UA
dc.subjectеліпсометріяuk_UA
dc.subjectелектромагнітні хвиліuk_UA
dc.titleApplication of envelope function method for multibeam interference extremums to the ellipsometry electromagnetic waves by single-layered coatingsuk_UA
dc.typeArticleuk_UA

Files

Original bundle

Now showing 1 - 1 of 1
Thumbnail Image
Name:
16-83-86.pdf
Size:
141.82 KB
Format:
Adobe Portable Document Format

License bundle

Now showing 1 - 1 of 1
No Thumbnail Available
Name:
license.txt
Size:
1.71 KB
Format:
Item-specific license agreed upon to submission
Description: