Прсторова анізотропія електро-, п'єзо- та акусто-оптичного ефектів у кристалічних матеріалах твердотільної електроніки. Матеріалах твердотільної електроніки. Апробація на прикладі кристалів LiNbO3 та LiNbO3:MgO. Частина I. Розробка комплексної методики 3D-аналізу анізотропії індукованих оптичних ефектів у кристалах

Abstract

Для кристалів довільного класу симетрії розроблено комплексну методику 3D-аналізу просторової анізотропії індукованих оптичних (електро-, п’єзо- та акустооптичного) ефектів. На основі пропонованих методик та створених експериментальних установок проаналізовано послідовність виконання експериментів, необхідних для заповнення матриць пружних, п’єзоелектричних, електро-, п’єзо- та пружнооптичних коефіцієнтів для кристалів всіх класів симетрії, а також триклінні. Показано можли- вість повного аналізу анізотропії індукованих оптичних ефектів на основі вказівних поверхонь для різних компонент тензорів цих ефектів. Демонструється також можливість побудови вказівних поверхонь для індукованого двозаломлення та оптичної різниці ходу, а також просторових поверхонь для параметра акустооптичної якості. Complex method for the analysis of spatial anisotropy of induced optical (electro-, piezo and acousto-optical) effects has been designed. The technique can be applied to the crystals belonging to arbitrary symmetry class. On the base of developed methods and designed experimental set-ups the sequence of experiments required to complete the matrices of elastic, piezo-electrical, electro-, piezo and elasto-optical coefficients for the crystals of different symmetry classes, including triclinic, has been analyzed. The possibility of complete analysis for induced optical effects anisotropy on the base of indicative surfaces for different components of these effects tensor has been shown. Additionally, it is shown how the suggested method can be applied to construct the indicative surfaces describing the induced birefringence and optical path length and spatial surfaces describing the acousto-optic figure of merit.