Дослідження впливу обчислювальних компонентів на похибки результатів вимірювань

dc.citation.epage16
dc.citation.issue4
dc.citation.journalTitleВимірювальна техніка та метрологія : міжвідомчий науково-технічний збірник
dc.citation.spage12
dc.citation.volume79
dc.contributor.affiliationДержавне підприємство “Науково-дослідний інститут метрології вимірювальних і управляючих систем”
dc.contributor.affiliationState Enterprise “Research Institute of Metrology of Measuring and Control Systems”
dc.contributor.authorКричевець, О. М.
dc.contributor.authorKrichevets, O.
dc.coverage.placenameЛьвів
dc.date.accessioned2019-11-13T10:09:09Z
dc.date.available2019-11-13T10:09:09Z
dc.date.created2018-02-26
dc.date.issued2018-02-26
dc.description.abstractНаведено результати досліджень поведінки функцій перетворення похибок вхідних даних для різних типів обчислювальних компонентів вимірювальних систем з метою використання їх узагальнених моделей, розроблених на основі теорії кінцевих автоматів. Показано, що залежно від виду і значення функції перетворення похибок вхідних даних (метрологічного стану обчислювальних компонентів) похибки результатів вимірювань вимірювальними каналами систем мають детермінований характер змін як у статичному, так і в динамічному режимах функціонування обчислювальних каналів. Визначено основні залежності похибок результатів вимірювань від похибок вхідних даних і від типів функцій перетворення вхідних даних, наведено результати їх розрахунку.
dc.description.abstractIn this paper the results of researches of errors transformation functions of input data for various types of computing components of measuring systems are developed on the basis of the theory of finite automata. Depending on the type and value of the error transformation function of the input data or on the metrological state of the computing components, the errors of the measuring channels of the complex systems are inherent in the deterministic character of the changes both in the static and in the dynamic operation modes of the mentioned components. The major dependencies of the measurement results errors on the input data errors and on the types of the input data conversion functions are determined, and the results of their computation are presented. For iterative procedures, the error of input data does not affect the final result of measurement and its accuracy. Measurement error depends on the number of iterations and decreases with its raise. Significantly interesting is the behavior of the errors transformation function for input data. First, its values depend on the number of iterations, and secondly, mainly reducing the errors of the input data from the number of iterations. For chains of a sequential structure, it can be concluded the linear dependence of the measurement error on the error of the input data. The results of the studies of the parallel structure of the computing components indicate an ability to invert the error sign of the input data. Research of the circuits with the cyclic structure envisages that the similar dependence of the measurement errors on the errors of the input data; the behavior of transformation function is characteristic for the above mentioned types of the computing components, concerning the iterative procedures. The difference consists in the next. Computing components of the cyclic structure implement the so-called "spatial" iteration in contrast to the temporal, characteristic for such the components of the other structures.
dc.format.extent12-16
dc.format.pages5
dc.identifier.citationКричевець О. М. Дослідження впливу обчислювальних компонентів на похибки результатів вимірювань / О. М. Кричевець // Вимірювальна техніка та метрологія : міжвідомчий науково-технічний збірник. — Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2018. — Том 79. — № 4. — С. 12–16.
dc.identifier.citationenKrichevets O. Impact of computing components on measurement errors / O. Krichevets // Measuring equipment and metrology : scientific journal. — Vydavnytstvo Lvivskoi politekhniky, 2018. — Vol 79. — No 4. — P. 12–16.
dc.identifier.urihttps://ena.lpnu.ua/handle/ntb/45563
dc.language.isouk
dc.publisherВидавництво Львівської політехніки
dc.relation.ispartofВимірювальна техніка та метрологія : міжвідомчий науково-технічний збірник, 4 (79), 2018
dc.relation.ispartofMeasuring equipment and metrology : scientific journal, 4 (79), 2018
dc.relation.references1. О. Кричевець, “Дослідження функцій перетворення обчислювальних каналів вимірювальних систем”, Тези доповідей УІ Міжнародної науково-технічної конференції “Метрологія, інформаційно-вимірювальні технології та системи”, Харків, с. 82, 2017.
dc.relation.references2. S. Yatsyshyn, B. Stadnyk “Metrological Array of Cyber- Physical Systems”, Part 12, Study of Quantum Unit of Temperature Sensors and Transducers: no. 192, Issue 9, 2016, pp. 30–36.
dc.relation.references3. М. Микийчук, Б. Стадник, C. Яцишин, Я. Луцик, “Розумні вимірювальні засоби для кібер-фізичних систем”, Вимірювальна техніка і метрологія, т. 77, с. 3–16, 2016.
dc.relation.references4. S.Yatsyshyn, B. Stadnyk, Ya. Lutsyk, O. Basalkevych, “Research in Nanothermometry. Part 8. Summary”, Sensors & Transducers, vol. 144, is. 9, p.1–15, 2012.
dc.relation.references5. Б. Стадник, С. Яцишин, М. Микийчук, Я. Луцик, П. Скоропад, Т. Фрьоліх, “Метрологічна надійність термо- електричного наносенсора квантового еталона температури”, Вимірювальна техніка і метрологія, т. 79(2), с. 0–28, 2018.
dc.relation.referencesen1. O. Krichevets, ”Research of transformation functions of measuring channels of measuring systems”, in Abstracts of the YI of the Int. sc. and techn. Conf. “Metrology, information-measuring technologies and systems”, Kharkiv, Ukraine, 2017, p. 82.
dc.relation.referencesen2. S. Yatsyshyn, B. Stadnyk, “Metrological Array of Cyber- Physical Systems”, part 12, Study of Quantum Unit of Temperature Sensors and Transducers, vol. 192, is. 9, pp. 30–36, 2015.
dc.relation.referencesen3. M. Mykyychuk, B. Stadnyk, S. Yatsyshyn, Y. Lutsyk, “Intelligent measuring instruments for cyber-physical systems”, Measuring equipment and metrology, vol. 77, рр. 3–16, 2016.
dc.relation.referencesen4. S.Yatsyshyn, B. Stadnyk, Ya. Lutsyk, O. Basalkevych, “Research in Nanothermometry. Part 8. Summary”, Sensors & Transducers, vol. 144, is. 9, p.1–15, 2012.
dc.relation.referencesen5. B. Stadnyk, S. Yatsyshyn, М. Mykyychuk, Y. Lutsyk, P, Skoropad, T. Frohlich, “Metrological reliability of a thermoelectric nanosensor of a quantum standard of temperature”, Measuring equipment and metrology, vol. 79, is. 2, р. 20–28, 2018.
dc.rights.holder© Національний університет “Львівська політехніка”, 2018
dc.subjectвимірювальна система
dc.subjectкінцевий автомат
dc.subjectметрологічний стан
dc.subjectобчислювальний компонент
dc.subjectфункція перетворення похибок вхідних даних
dc.subjectMeasuring system
dc.subjectAutomatic machine
dc.subjectMetrological unit
dc.subjectComputing component
dc.subjectTransformation function of the errors of input data
dc.titleДослідження впливу обчислювальних компонентів на похибки результатів вимірювань
dc.title.alternativeImpact of computing components on measurement errors
dc.typeArticle

Files

Original bundle

Now showing 1 - 2 of 2
Thumbnail Image
Name:
2018v79n4_Krichevets_O-Impact_of_computing_components_12-16.pdf
Size:
549.85 KB
Format:
Adobe Portable Document Format
Thumbnail Image
Name:
2018v79n4_Krichevets_O-Impact_of_computing_components_12-16__COVER.png
Size:
1.16 MB
Format:
Portable Network Graphics

License bundle

Now showing 1 - 1 of 1
No Thumbnail Available
Name:
license.txt
Size:
2.96 KB
Format:
Plain Text
Description: